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γ射线辐照CMOS有源像素传感器的总剂量辐射效应研究 会议论文
, 中国甘肃兰州, 2014-08-13
Authors:  汪波;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  任迪远;  文林;  玛丽娅;  曾骏哲;  王海娇
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Cmos Aps  暗信号  像素单元结构  电离总剂量  Locos隔离  
质子辐照导致科学级CCD电离和位移损伤及其机理分析 会议论文
, 中国甘肃兰州, 2014-08-13
Authors:  文林;  李豫东;  郭旗;  任迪远;  汪波;  玛丽娅
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Ccd  质子辐照  电离效应  位移损伤  体缺陷  
1.8MeV电子辐照AlGaN基p-i-n日盲型光探测器的辐射效应研究 会议论文
, 中国甘肃兰州, 2014-08-13
Authors:  李豫东;  郭旗;  罗木昌;  张孝富;  文林;  汪波
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Algan日盲型光探测器  电子辐照  I-v特性  C-v特性  
CMOS有源像素图像传感器的电子辐照损伤效应研究 会议论文
, 中国甘肃兰州, 2014-08-13
Authors:  玛丽娅;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  文林;  汪波
Adobe PDF(783Kb)  |  Favorite  |  View/Download:21/0  |  Submit date:2018/06/05
Cmos有源像素传感器  电子辐照  电离效应  暗电流  氧化物陷阱电荷  界面态缺陷