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3MeV质子辐照下背照式CMOS图像传感器固定模式噪声的退化行为 期刊论文
现代应用物理, 2019, 卷号: 10, 期号: 1, 页码: 50-53
Authors:  张翔;  李豫东;  郭旗;  文林;  周东;  冯婕;  马林东;  蔡毓龙;  王志铭
Adobe PDF(227Kb)  |  Favorite  |  View/Download:31/0  |  Submit date:2019/05/09
背照式CMOS图像传感器  3MeV质子  固定模式噪声  位移效应  电离总剂量效应  
γ辐照下4T CMOS有源像素传感器的满阱容量退化机理 期刊论文
现代应用物理, 2019, 卷号: 10, 期号: 1, 页码: 64-68
Authors:  蔡毓龙;  李豫东;  郭旗;  文林;  周东;  冯婕;  马林东;  张翔
Adobe PDF(326Kb)  |  Favorite  |  View/Download:28/0  |  Submit date:2019/05/09
图像传感器  CMOS  满阱容量  电离总剂量效应  
空间碎片探测卫星成像CCD的在轨辐射效应分析简 期刊论文
遥感学报, 2019, 卷号: 23, 期号: 1, 页码: 116-124
Authors:  李豫东;  文林;  黄建余;  文延;  张科科;  郭旗
Adobe PDF(1430Kb)  |  Favorite  |  View/Download:63/0  |  Submit date:2019/02/21
空间碎片探测  电荷耦合器件  辐射效应  在轨数据分析  瞬时效应  热像素  
CCD及CMOS图像传感器的质子位移损伤等效分析 期刊论文
现代应用物理, 2019, 卷号: 10, 期号: 2, 页码: 44-48
Authors:  于新;  荀明珠;  郭旗;  何承发;  李豫东;  文林;  张兴尧;  周东
Adobe PDF(938Kb)  |  Favorite  |  View/Download:31/0  |  Submit date:2019/07/29
位移损伤效应  非电离能量损失  CCD  CMOS  
基于递归算法的图像传感器单粒子效应瞬态亮斑识别方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN108537809A, 公开日期: 2018-09-14,
Inventors:  文林;  李豫东;  冯婕;  周东;  张兴尧;  郭旗
Favorite  |  View/Download:2/0  |  Submit date:2019/08/06
一种基于Matlab的图像传感器RTS噪声检测分析系统 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN104853117B, 公开日期: 2018-03-20,
Inventors:  郭旗;  王帆;  李豫东;  汪波;  张兴尧;  何承发;  文林;  陆妩;  施炜雷;  孙静;  李小龙;  余德昭;  武大猷;  玛利亚·黑尼
Favorite  |  View/Download:6/0  |  Submit date:2019/08/08
gamma-Ray Radiation Effects on an HfO2-Based Resistive Memory Device 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY, 2018, 卷号: 17, 期号: 1, 页码: 61-64
Authors:  Hu, SG (Hu, Shaogang);  Liu, Y (Liu, Yang);  Chen, TP (Chen, Tupei);  Guo, Q (Guo, Qi);  Li, YD (Li, Yu-Dong);  Zhang, XY (Zhang, Xing-Yao);  Deng, LJ (Deng, L. J.);  Yu, Q (Yu, Qi);  Yin, Y (Yin, You);  Hosaka, S (Hosaka, Sumio)
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Gamma-ray  Hafnium Oxide  Radiation  Resistive Switching  Total Ionizing Dose  
不同注量率质子辐照对CCD参数退化的影响分析 期刊论文
现代应用物理, 2018, 卷号: 9, 期号: 2, 页码: 67-70
Authors:  李豫东;  文林;  郭旗;  何承发;  周东;  冯婕;  张兴尧;  于新
Adobe PDF(727Kb)  |  Favorite  |  View/Download:42/0  |  Submit date:2018/07/24
质子  电荷耦合器件  辐射效应  注量率  缺陷  
质子辐射导致CCD热像素产生的机制研究 期刊论文
微电子学, 2018, 卷号: 48, 期号: 1, 页码: 115-119+125
Authors:  刘元;  文林;  李豫东;  何承发;  郭旗;  孙静;  冯婕;  曾俊哲;  马林东;  张翔;  王田珲
Adobe PDF(756Kb)  |  Favorite  |  View/Download:45/0  |  Submit date:2018/03/19
电荷耦合器件  质子辐射效应  热像素  
Effects of proton irradiation on upright metamorphic GaInP/GaInAs/Ge triple junction solar cells 期刊论文
SOLAR ENERGY MATERIALS AND SOLAR CELLS, 2018, 卷号: 185, 期号: 10, 页码: 36-44
Authors:  Aierken, A (Aierken, A.)[ 1 ];  Fang, L (Fang, L.)[ 2 ];  Heini, M (Heini, M.)[ 1 ];  Zhang, QM (Zhang, Q. M.)[ 2 ];  Li, ZH (Li, Z. H.)[ 1,3 ];  Zhao, XF (Zhao, X. F.)[ 1,3 ];  Sailai, M (Sailai, M.)[ 1 ];  Liu, HT (Liu, H. T.)[ 1 ];  Guo, Q (Guo, Q.)[ 1 ];  Gao, W (Gao, W.)[ 2 ];  Gao, H (Gao, H.)[ 2 ];  Sun, Q (Sun, Q.)[ 2 ]
Adobe PDF(2611Kb)  |  Favorite  |  View/Download:53/1  |  Submit date:2018/08/07
Upright Metamorphic  Solar Cell  Proton Irradiation  Degradation  Srim