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CCD及CMOS图像传感器的质子位移损伤等效分析 期刊论文
现代应用物理, 2019, 卷号: 10, 期号: 2, 页码: 44-48
Authors:  于新;  荀明珠;  郭旗;  何承发;  李豫东;  文林;  张兴尧;  周东
Adobe PDF(938Kb)  |  Favorite  |  View/Download:29/0  |  Submit date:2019/07/29
位移损伤效应  非电离能量损失  CCD  CMOS  
基于递归算法的图像传感器单粒子效应瞬态亮斑识别方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN108537809A, 公开日期: 2018-09-14,
Inventors:  文林;  李豫东;  冯婕;  周东;  张兴尧;  郭旗
Favorite  |  View/Download:2/0  |  Submit date:2019/08/06
一种基于Matlab的图像传感器RTS噪声检测分析系统 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN104853117B, 公开日期: 2018-03-20,
Inventors:  郭旗;  王帆;  李豫东;  汪波;  张兴尧;  何承发;  文林;  陆妩;  施炜雷;  孙静;  李小龙;  余德昭;  武大猷;  玛利亚·黑尼
Favorite  |  View/Download:6/0  |  Submit date:2019/08/08
不同注量率质子辐照对CCD参数退化的影响分析 期刊论文
现代应用物理, 2018, 卷号: 9, 期号: 2, 页码: 67-70
Authors:  李豫东;  文林;  郭旗;  何承发;  周东;  冯婕;  张兴尧;  于新
Adobe PDF(727Kb)  |  Favorite  |  View/Download:42/0  |  Submit date:2018/07/24
质子  电荷耦合器件  辐射效应  注量率  缺陷  
Electron-beam-irradiation-induced crystallization of amorphous solid phase change materials 期刊论文
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2018, 卷号: 57, 期号: 4, 页码: 1-4
Authors:  Zhou, D (Zhou, Dong);  Wu, LC (Wu, Liangcai);  Wen, L (Wen, Lin);  Ma, LY (Ma, Liya);  Zhang, XY (Zhang, Xingyao);  Li, YD (Li, Yudong);  Guo, Q (Guo, Qi);  Song, ZT (Song, Zhitang)
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Total Ionizing Dose Response and Annealing Behavior of Bulk nFinFETs With ON-State Bias Irradiation 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018, 卷号: 65, 期号: 8, 页码: 1503-1510
Authors:  Yang, L (Yang, Ling)[ 1,2 ];  Zhang, QZ (Zhang, Qingzhu)[ 1,3 ];  Huang, YB (Huang, Yunbo)[ 1,2 ];  Zheng, ZS (Zheng, Zhongshan)[ 1,2 ];  Li, B (Li, Bo)[ 1,2 ];  Li, BH (Li, Binhong)[ 1,2 ];  Zhang, XY (Zhang, Xingyao)[ 4 ];  Zhu, HP (Zhu, Huiping)[ 1,2 ];  Yin, HX (Yin, Huaxiang)[ 1,3 ];  Guo, Q (Guo, Qi)[ 4 ];  Luo, JJ (Luo, Jiajun)[ 1,2 ];  Han, ZS (Han, Zhengsheng)[ 1,2 ]
Adobe PDF(3023Kb)  |  Favorite  |  View/Download:44/0  |  Submit date:2018/09/18
Anneal  Finfet  On-state Bias  Total Ionizing Dose (Tid)  
一种基于宇宙射线的电荷耦合器件电荷转移效率在轨测试方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN107273694A, 公开日期: 2017-10-20,
Inventors:  冯婕;  李豫东;  文林;  于新;  张兴尧;  郭旗
Favorite  |  View/Download:2/0  |  Submit date:2019/08/06
一种基于光斑的电荷耦合器件电荷转移效率通用测试方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN107144755A, 公开日期: 2017-09-08,
Inventors:  李豫东;  文林;  冯婕;  周东;  张兴尧;  郭旗
Favorite  |  View/Download:1/0  |  Submit date:2019/08/06
基于p‑i‑n结构的位移损伤剂量探测方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN104459372B, 公开日期: 2017-09-01,
Inventors:  于新;  何承发;  施炜雷;  郭旗;  文林;  张兴尧;  孙静;  李豫东
Favorite  |  View/Download:2/0  |  Submit date:2019/08/09
用于焦平面成像器件绝对光谱响应的通用快速测量方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN106932174A, 公开日期: 2017-07-07,
Inventors:  李豫东;  文林;  郭旗;  施炜雷;  于刚;  周东;  张兴尧;  于新
Favorite  |  View/Download:3/0  |  Submit date:2019/08/06