XJIPC OpenIR

Browse/Search Results:  1-7 of 7 Help

Selected(0)Clear Items/Page:    Sort:
一种用于光电材料光致发光谱辐射损伤的测试方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN106370629A, 公开日期: 2017-02-01,
Inventors:  郭旗;  玛丽娅·黑尼;  艾尔肯·阿不都瓦衣提;  李豫东;  文林;  周东;  张兴尧;  陆妩;  余学峰;  何承发
Favorite  |  View/Download:0/0  |  Submit date:2019/08/07
串口型铁电存储器总剂量辐射损伤效应和退火特性 期刊论文
物理学报, 2013, 卷号: 62, 期号: 15, 页码: 347-352
Authors:  张兴尧;  郭旗;  陆妩;  张孝富;  郑齐文;  崔江维;  李豫东;  周东
Adobe PDF(444Kb)  |  Favorite  |  View/Download:239/0  |  Submit date:2013/11/06
铁电存储器  总剂量辐射  退火特性  
CCD在不同注量率电子辐照下的辐射效应研究 期刊论文
原子能科学技术, 2012, 卷号: 46, 期号: 3, 页码: 346-350
Authors:  李豫东;  郭旗;  陆妩;  周东;  何承发;  余学峰
Adobe PDF(252Kb)  |  Favorite  |  View/Download:232/11  |  Submit date:2012/11/29
线阵ccd  电子辐照  电离总剂量效应  时间相关效应  
Ni-Al-O diffusion barrier layer for high-kappa metal-oxide-semiconductor capacitor 期刊论文
THIN SOLID FILMS, 2011, 卷号: 519, 期号: 10, 页码: 3358-3362
Authors:  Wu D. Q.;  Jia R.;  Yao J. C.;  Zhao H. S.;  Chang A. M.
Adobe PDF(741Kb)  |  Favorite  |  View/Download:108/0  |  Submit date:2013/11/07
High-kappa Gate Dielectrics  Leakage Current Density  Er(2)o(3)  Ni-al-o  Diffusion Barrier Layer  
相变存储器单元总剂量辐射效应的研究 会议论文
, 三亚, 2011-11-01
Authors:  周东;  郭旗;  宋志棠;  吴良才;  李豫东;  席善斌
Adobe PDF(580Kb)  |  Favorite  |  View/Download:193/1  |  Submit date:2013/04/09
航天器  相变存储器  总剂量辐照  抗辐照能力  
80C31单片机电路总剂量效应研究 期刊论文
微电子学, 2005, 卷号: 35, 期号: 6, 页码: 584-586,590
Authors:  匡治兵;  郭旗;  任迪远;  李爱武;  汪东
Adobe PDF(203Kb)  |  Favorite  |  View/Download:221/7  |  Submit date:2012/11/29
单片机  60coγ辐照  辐射损伤  退火  
双极晶体管高温辐照的剂量率效应研究 期刊论文
微电子学, 2005, 卷号: 35, 期号: 5, 页码: 493-496,500
Authors:  汪东;  陆妩;  任迪远;  郭旗;  何承发
Adobe PDF(213Kb)  |  Favorite  |  View/Download:148/12  |  Submit date:2012/11/29
双极晶体管  高温辐照  剂量率效应  低剂量率辐射损伤增强效应