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SiGe HBT与Si BJT的60Co射线总剂量辐照效应比较 期刊论文
固体电子学研究与进展, 2007, 卷号: 27, 期号: 3, 页码: 317-319,355
Authors:  牛振红;  郭旗;  任迪远;  刘月;  高嵩
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Sige异质结双极晶体管  电离辐射  损伤机理  
SiGe HBT60Coγ射线辐照效应及退火特性 期刊论文
半导体学报, 2006, 卷号: 27, 期号: 9, 页码: 1608-1611
Authors:  牛振红;  郭旗;  任迪远;  刘刚;  高嵩
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Sige异质结双极晶体管  电离辐射  退火  后损伤效应