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Total ionizing dose effects of domestic SiGe HBTs under different dose rates 期刊论文
CHINESE PHYSICS C, 2016, 卷号: 40, 期号: 3, 页码: 1-5
Authors:  Liu, MH (Liu, Mo-Han);  Lu, W (Lu, Wu);  Ma, WY (Ma, Wu-Ying);  Wang, X (Wang, Xin);  Guo, Q (Guo, Qi);  He, CF (He, Cheng-Fa);  Jiang, K (Jiang, Ke);  Li, XL (Li, Xiao-Long);  Xun, MZ (Xun, Ming-Zhu)
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Sige Hbts  Tid  Eldrs  Annealing  
Radiation Resistance of Fluorine-Implanted PNP Using Gated-Controlled Lateral PNP Transistor Structure 期刊论文
CHINESE PHYSICS LETTERS, 2016, 卷号: 33, 期号: 8, 页码: 1-3
Authors:  Wang, X (Wang, Xin);  Lu, W (Lu, Wu);  Ma, WY (Ma, Wu-Ying);  Guo, Q (Guo, Qi);  Wang, ZK (Wang, Zhi-Kuan);  He, CF (He, Cheng-Fa);  Liu, MH (Liu, Mo-Han);  Li, XL (Li, Xiao-Long);  Jia, JC (Jia, Jin-Cheng)
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偏置条件对NPN型锗硅异质结双极晶体管电离辐射效应的影响 期刊论文
核技术, 2015, 卷号: 38, 期号: 6, 页码: 38-44
Authors:  刘默寒;  陆妩;  马武英;  王信;  郭旗;  何承发;  姜柯
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锗硅异质结双极晶体管  总剂量效应  偏置条件  退火  
质子与中子辐照对电荷耦合器件暗信号参数的影响及其效应分析 期刊论文
物理学报, 2015, 卷号: 64, 期号: 19, 页码: 173-180
Authors:  曾骏哲;  李豫东;  文林;  何承发;  郭旗;  汪波;  玛丽娅;  魏莹;  王海娇;  武大猷;  王帆;  周航
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电荷耦合器件  质子辐照  中子辐照  输运仿真  
质子辐射环境下PNP输入双极运算放大器辐照效应与退火特性 期刊论文
原子能科学技术, 2015, 卷号: 49, 期号: 11, 页码: 2087-2092
Authors:  姜柯;  陆妩;  马武英;  郭旗;  何承发;  王信;  曾俊哲;  刘默涵
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Pnp输入双极运算放大器  质子辐射  60 Coγ射线辐射  辐射效应  
用于纵向NPN晶体管电离辐射损伤的定量测试方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN103926518A, 公开日期: 2014-07-16,
Inventors:  陆妩;  郭旗;  王信;  马武英;  李豫东;  于新;  魏莹
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一种用于横向NPN晶体管电离辐射损伤的定量测试方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN103926519A, 公开日期: 2014-07-16,
Inventors:  陆妩;  郭旗;  马武英;  王信;  孙静;  文林;  崔江维
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电压比较器电离辐射效应及加速评估方法的研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2014
Authors:  马武英
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电离辐射  电压比较器  低剂量率辐射损伤增强效应  加速评估方法  
双极电压比较器电离辐射损伤及剂量率效应分析 期刊论文
物理学报, 2014, 卷号: 63, 期号: 2, 页码: 229-235
Authors:  马武英;  陆妩;  郭旗;  何承发;  吴雪;  王信;  丛忠超;  汪波;  玛丽娅
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双极电压比较器  60 Coγ辐照  剂量率效应  辐射损伤  Bipolar Voltage Comparator  60coγ Irradiation  Dose Rate Effect  Ionization Damage  
Research on dark signal degradation in Co-60 gamma-ray-irradiated CMOS active pixel sensor 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2014, 卷号: 63, 期号: 5
Authors:  Wang Bo;  Li Yu-Dong;  Guo Qi;  Liu Chang-Ju;  Wen Lin;  Ma Li-Ya;  Sun Jing;  Wang Hai-Jiao;  Cong Zhong-Chao;  Ma Wu-Ying
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Cmos Aps  Dark Signal  Co-60 Gamma-rays  Damage Mechanism