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一种使用变温光致发光谱测试分析太阳电池辐射效应的方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN109459418A, 公开日期: 2019-03-12,
Inventors:  艾尔肯·阿不都瓦衣提;  慎小宝;  玛丽娅·黑尼;  赵晓凡;  莫敏·赛来;  许焱;  雷琪琪;  李豫东;  郭旗
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一种低温光致发光快速高效测试方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN109238969A, 公开日期: 2019-01-18,
Inventors:  艾尔肯·阿不都瓦衣提;  赵晓凡;  玛丽娅·黑尼;  莫敏·塞来;  慎小宝;  许焱;  雷琪琪;  李豫东;  郭旗
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一种光致发光测试中避免激发激光谐波影响的方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN109187445A, 公开日期: 2019-01-11,
Inventors:  玛丽娅·黑尼;  莫敏·塞来;  艾尔肯·阿不都瓦衣提;  赵晓凡;  慎小宝;  许焱;  雷琪琪;  李豫东;  郭旗
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一种提高低温光致发光测试精度的实验方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN109187349A, 公开日期: 2019-01-11,
Inventors:  艾尔肯·阿不都瓦衣提;  雷琪琪;  莫敏·塞来;  马丽娅·黑尼;  赵晓凡;  慎小宝;  许焱;  李豫东;  郭旗
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Spectral and electrical properties of 3 MeV and 10 MeV proton irradiated InGaAsP single junction solar cell 期刊论文
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2019, 卷号: 58, 期号: 3, 页码: 1-6
Authors:  Xu, Y (Xu, Yan)[ 1,2 ];  Heini, M (Heini, Maliya)[ 2 ];  Shen, XB (Shen, Xiaobao)[ 2,3 ];  Aierken, A (Aierken, Abuduwayiti)[ 2,4 ];  Zhao, XF (Zhao, Xiaofan)[ 2 ];  Sailai, M (Sailai, Momin)[ 2 ];  Lu, W (Lu, Wu)[ 2 ];  Tan, M (Tan, Ming)[ 5 ];  Wu, YY (Wu, Yuanyuan)[ 5 ];  Lu, SL (Lu, Shulong)[ 5 ];  Li, YD (Li, Yudong)[ 2 ];  Guo, Q (Guo, Qi)[ 2 ]
Adobe PDF(740Kb)  |  Favorite  |  View/Download:59/1  |  Submit date:2019/03/19
Electron irradiation-induced defects and photoelectric properties of Te-doped GaSb 期刊论文
JOURNAL OF PHYSICS AND CHEMISTRY OF SOLIDS, 2019, 卷号: 132, 期号: 9, 页码: 26-30
Authors:  Wang, DK (Wang, Dengkui)[ 1 ];  Chen, BK (Chen, Bingkun)[ 1 ];  Wei, ZP (Wei, Zhipeng)[ 1 ];  Fang, X (Fang, Xuan)[ 1 ];  Tang, JL (Tang, Jilong)[ 1 ];  Fang, D (Fang, Dan)[ 1 ];  Aierken, A (Aierken, Abuduwayiti)[ 2 ];  Wang, XH (Wang, Xiaohua)[ 1 ];  Maliya, H (Maliya, Heini)[ 2 ];  Guo, Q (Guo, Qi)[ 2 ]
Adobe PDF(1522Kb)  |  Favorite  |  View/Download:30/0  |  Submit date:2019/07/23
GaSb  Electron irradiation  Photoluminescence  Defects  
互补金属氧化物半导体图像传感器单粒子效应试验图像在线采集方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN108401151A, 公开日期: 2018-08-14,
Inventors:  李豫东;  文林;  冯婕;  施炜雷;  于新;  玛丽娅·黑尼;  郭旗
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一种基于Matlab的图像传感器RTS噪声检测分析系统 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN104853117B, 公开日期: 2018-03-20,
Inventors:  郭旗;  王帆;  李豫东;  汪波;  张兴尧;  何承发;  文林;  陆妩;  施炜雷;  孙静;  李小龙;  余德昭;  武大猷;  玛利亚·黑尼
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一种用于光电材料光致发光谱辐射损伤的测试方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN106370629A, 公开日期: 2017-02-01,
Inventors:  郭旗;  玛丽娅·黑尼;  艾尔肯·阿不都瓦衣提;  李豫东;  文林;  周东;  张兴尧;  陆妩;  余学峰;  何承发
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1 MeV电子辐照下晶格匹配与晶格失配GaInP/GaInAs/Ge三结太阳电池辐射效应研究 期刊论文
发光学报, 2017, 卷号: 38, 期号: 4, 页码: 463-469
Authors:  李占行;  艾尔肯·阿不都瓦衣提;  玛丽娅·黑尼;  方亮;  高伟;  高慧;  孟宪松;  郭旗
Adobe PDF(2562Kb)  |  Favorite  |  View/Download:135/0  |  Submit date:2017/05/12
辐射效应  辐照退化  晶格匹配  晶格失配  三结太阳电池