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SRAM型FPGA器件总剂量辐射效应及评估技术的研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2011
Authors:  高博
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Sram型fpga器件  总剂量效应  辐射损伤  评估技术  试验方法  
SRAM型FPGA器件总剂量辐射损伤及退火效应研究 会议论文
, 沈阳, 2009
Authors:  高博;  余学峰;  任迪远;  王义元;  李鹏伟;  于跃;  李茂顺;  崔江维
Adobe PDF(405Kb)  |  Favorite  |  View/Download:162/2  |  Submit date:2013/04/09
60coγ总剂量  辐射损伤  退火效应  Fpga器件