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3MeV质子辐照下背照式CMOS图像传感器固定模式噪声的退化行为 期刊论文
现代应用物理, 2019, 卷号: 10, 期号: 1, 页码: 50-53
Authors:  张翔;  李豫东;  郭旗;  文林;  周东;  冯婕;  马林东;  蔡毓龙;  王志铭
Adobe PDF(227Kb)  |  Favorite  |  View/Download:31/0  |  Submit date:2019/05/09
背照式CMOS图像传感器  3MeV质子  固定模式噪声  位移效应  电离总剂量效应  
γ辐照下4T CMOS有源像素传感器的满阱容量退化机理 期刊论文
现代应用物理, 2019, 卷号: 10, 期号: 1, 页码: 64-68
Authors:  蔡毓龙;  李豫东;  郭旗;  文林;  周东;  冯婕;  马林东;  张翔
Adobe PDF(326Kb)  |  Favorite  |  View/Download:28/0  |  Submit date:2019/05/09
图像传感器  CMOS  满阱容量  电离总剂量效应  
双向长短时记忆模型训练中的空间平滑正则化方法研究 期刊论文
电子与信息学报, 2019, 卷号: 41, 期号: 3, 页码: 544-550
Authors:  李文洁;  葛凤培;  张鹏远;  颜永红
Adobe PDF(981Kb)  |  Favorite  |  View/Download:26/0  |  Submit date:2019/03/18
语音信号处理  空间平滑  双向长短时记忆模型(LSTM)  正则化  过拟合  
One-step synthesis of novel phosphorus nitride dots for two-photon imaging in living cells 期刊论文
CHEMICAL COMMUNICATIONS, 2019, 卷号: 55, 期号: 32, 页码: 4719-4722
Authors:  Wu, XX (Wu, Xiaoxia)[ 1,2 ];  Shu, J (Shu, Jie)[ 3 ];  Feng, B (Feng, Bo)[ 1 ];  Yang, LY (Yang, Lingyan)[ 2 ];  Lan, JZ (Lan, Jinze)[ 2 ];  Li, F (Li, Fan)[ 2 ];  Xi, P (Xi, Peng)[ 4 ];  Wang, F (Wang, Fu)[ 1 ]
Adobe PDF(3159Kb)  |  Favorite  |  View/Download:27/0  |  Submit date:2019/06/28
Heavy ion-induced single event effects in active pixel sensor array 期刊论文
SOLID-STATE ELECTRONICS, 2019, 卷号: 152, 期号: 2, 页码: 93-99
Authors:  Cai, YL (Cai, Yu-Long)[ 1,2,3 ];  Guo, Q (Guo, Qi)[ 1,2 ];  Li, YD (Li, Yu-Dong)[ 1,2 ];  Wen, L (Wen, Lin)[ 1,2 ];  Zhou, D (Zhou, Dong)[ 1,2 ];  Feng, J (Feng, Jie)[ 1,2 ];  Ma, LD (Ma, Lin-Dong)[ 1,2,3 ];  Zhang, X (Zhang, Xiang)[ 1,2,3 ];  Wang, TH (Wang, Tian-Hui)[ 1,2,3 ]
Adobe PDF(1340Kb)  |  Favorite  |  View/Download:91/1  |  Submit date:2019/01/03
CMOS active pixel sensor (APS)  SEE  Heavy ion  
辐照后互补金属氧化物半导体光子转移曲线和转换增益的测试方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN106840613B, 公开日期: 2018-10-12,
Inventors:  李豫东;  冯婕;  马林东;  文林;  周东;  郭旗
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基于递归算法的图像传感器单粒子效应瞬态亮斑识别方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN108537809A, 公开日期: 2018-09-14,
Inventors:  文林;  李豫东;  冯婕;  周东;  张兴尧;  郭旗
Favorite  |  View/Download:2/0  |  Submit date:2019/08/06
一种基于热像素的电荷耦合器件电荷转移效率在轨测试方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN107197236B, 公开日期: 2018-08-14,
Inventors:  文林;  李豫东;  冯婕;  王田珲;  于新;  周东;  郭旗
Favorite  |  View/Download:6/0  |  Submit date:2019/08/06
互补金属氧化物半导体图像传感器单粒子效应试验图像在线采集方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN108401151A, 公开日期: 2018-08-14,
Inventors:  李豫东;  文林;  冯婕;  施炜雷;  于新;  玛丽娅·黑尼;  郭旗
Favorite  |  View/Download:1/0  |  Submit date:2019/08/06
不同注量率质子辐照对CCD参数退化的影响分析 期刊论文
现代应用物理, 2018, 卷号: 9, 期号: 2, 页码: 67-70
Authors:  李豫东;  文林;  郭旗;  何承发;  周东;  冯婕;  张兴尧;  于新
Adobe PDF(727Kb)  |  Favorite  |  View/Download:42/0  |  Submit date:2018/07/24
质子  电荷耦合器件  辐射效应  注量率  缺陷