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静态随机存储器总剂量辐射损伤机制及试验方法研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2015
Authors:  郑齐文
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大规模集成电路  总剂量辐射  静态随机存储器  损伤机制  试验方法  
大规模集成电路抗辐射性能无损筛选方法 期刊论文
强激光与粒子束, 2013, 卷号: 25, 期号: 2, 页码: 485-489
Authors:  周东;  郭旗;  任迪远;  李豫东;  席善斌;  孙静;  文林
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大规模集成电路  无损筛选  辐射损伤  回归分析  物理应力  
静态随机存储器总剂量辐射效应及损伤机理的研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2012
Authors:  卢健
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Sram  大规模集成电路  不同偏置  总剂量辐射效应  辐射损伤  
不同剂量率下MOSFET的电离辐照效应 会议论文
, 重庆, 2007
Authors:  张华林;  陆妩;  任迪远;  余学峰;  郭旗
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Mosfet  电离辐照  数字集成电路  阈电压漂移  
双极线性集成电路的低剂量率辐射损伤增强效应及其加速评估方法研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2006
Authors:  高嵩
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双极线性集成电路  低剂量率  辐射损伤  加速评估方法  Eldrs  
多层片式压敏电阻器 会议论文
, 北京, 2003-09-01
Authors:  康雪雅;  张明;  章锦泰
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多层片式压敏电阻器  性能  应用  集成电路