XJIPC OpenIR

Browse/Search Results:  1-1 of 1 Help

Selected(0)Clear Items/Page:    Sort:
电离辐射对部分耗尽绝缘体上硅器件低频噪声特性的影响 期刊论文
物理学报, 2015, 卷号: 64, 期号: 7, 页码: 393-398
Authors:  刘远;  陈海波;  何玉娟;  王信;  岳龙;  恩云飞;  刘默寒
Adobe PDF(748Kb)  |  Favorite  |  View/Download:134/0  |  Submit date:2015/06/26
绝缘体上硅  部分耗尽  电离辐射  低频噪声