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CCD器件辐射损伤参数测试方法 期刊论文
上海航天, 2015, 卷号: 32, 期号: 2, 页码: 64-68
Authors:  葛钊;  陈佳杰;  李豫东;  吾勤之
Adobe PDF(563Kb)  |  Favorite  |  View/Download:103/0  |  Submit date:2015/06/26
辐射效应  参数测试方法  光谱响应