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抗高电离辐射MOS新介质与损伤模拟分析技术的研究 成果
新疆维吾尔自治区科技进步奖;, 1995
Accomplishers:  张国强;  王国彬;  严荣良;  任迪远;  余学峰;  高剑侠;  罗来会;  陆妩;  范隆;  高文钰;  郭旗;  魏锡智
Favorite  |  View/Download:98/0  |  Submit date:2013/11/20