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应用于辐照实验的通用CCD测试电路设计 期刊论文
半导体技术, 2012, 卷号: 37, 期号: 7, 页码: 562-566
Authors:  张乐情;  郭旗;  李豫东;  卢健;  张兴尧;  胥佳灵;  于新
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电荷耦合器件  辐射效应  现场可编程门阵列  通用测试电路  电离总剂量  
Altera SRAM型现场可编程门阵列总剂量辐射效应 期刊论文
原子能科学技术, 2009, 卷号: 43, 期号: 12, 页码: 1128-1132
Authors:  高博;  余学峰;  任迪远;  王义元;  李鹏伟;  于跃
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Sram型现场可编程门阵列  60coγ源  总剂量效应  辐射