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InGaAs量子阱光电材料的辐射损伤效应研究 学位论文
, 北京: 中国科学院大学, 2015
Authors:  王海娇
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Ingaas/inp 量子阱  电子辐照  质子辐照  γ 辐照  辐射损伤  光致发  
电荷耦合器件在质子辐照下的粒子输运仿真与效应分析 期刊论文
物理学报, 2015, 卷号: 64, 期号: 11, 页码: 225-232
Authors:  曾骏哲;  何承发;  李豫东;  郭旗;  文林;  汪波;  玛丽娅;  王海娇
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电荷耦合器件  质子辐照  位移效应  输运仿真  
质子与中子辐照对电荷耦合器件暗信号参数的影响及其效应分析 期刊论文
物理学报, 2015, 卷号: 64, 期号: 19, 页码: 173-180
Authors:  曾骏哲;  李豫东;  文林;  何承发;  郭旗;  汪波;  玛丽娅;  魏莹;  王海娇;  武大猷;  王帆;  周航
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电荷耦合器件  质子辐照  中子辐照  输运仿真  
In0.53Ga0.47As/InP量子阱与体材料的1 MeV电子束辐照光致发光谱研究 期刊论文
物理学报, 2015, 卷号: 64, 期号: 15, 页码: 252-258
Authors:  玛丽娅;  李豫东;  郭旗;  艾尔肯;  王海娇;  汪波;  曾骏哲
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In0.53ga0.47as/in p  量子阱  电子束辐照  光致发光谱  
60Co-γ射线辐照CMOS有源像素传感器诱发暗信号退化的机理研究 期刊论文
物理学报, 2014, 卷号: 63, 期号: 5, 页码: 313-319
Authors:  汪波;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  文林;  玛丽娅;  孙静;  王海娇;  丛忠超;  马武英
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Cmos有源像素传感器  暗信号  60 Co-γ射线  损伤机理  Cmos Aps  Dark Signal  60 Coγ-rays  Damage Mechanism  
γ射线辐照CMOS有源像素传感器的总剂量辐射效应研究 会议论文
, 中国甘肃兰州, 2014-08-13
Authors:  汪波;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  任迪远;  文林;  玛丽娅;  曾骏哲;  王海娇
Adobe PDF(927Kb)  |  Favorite  |  View/Download:30/0  |  Submit date:2018/06/04
Cmos Aps  暗信号  像素单元结构  电离总剂量  Locos隔离