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γ射线及质子辐照导致CCD光谱响应退化的机制 期刊论文
发光学报, 2018, 卷号: 39, 期号: 2, 页码: 244-250
Authors:  文林;  李豫东;  郭旗;  汪朝敏
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电荷耦合器件  电离效应  位移损伤  光谱响应  
电荷耦合器件中子辐照诱发的位移效应 期刊论文
发光学报, 2016, 卷号: 37, 期号: 1, 页码: 44-49
Authors:  汪波;  李豫东;  郭旗;  汪朝敏;  文林
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电荷耦合器件  中子辐照  位移效应  电荷转移效率  暗信号  
电荷耦合器件的γ辐照剂量率效应研究 期刊论文
发光学报, 2016, 卷号: 37, 期号: 6, 页码: 711-719
Authors:  武大猷;  文林;  汪朝敏;  何承发;  郭旗;  李豫东;  曾俊哲;  汪波;  刘元
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电荷耦合器件  暗信号  低剂量率损伤增强效应  暗场像素统计  
质子、中子、60Co-γ射线辐照对电荷耦合器件饱和输出电压的影响 期刊论文
红外与激光工程, 2015, 卷号: 44, 期号: S1, 页码: 35-40
Authors:  汪波;  文林;  李豫东;  郭旗;  汪朝敏;  王帆;  任迪远;  曾骏哲;  武大猷
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电荷耦合器件  高能粒子辐照  饱和输出电压  电离总剂量效应  
CCD的总剂量效应及加固方法研究 会议论文
, 三亚, 2011-11-01
Authors:  李豫东;  汪朝敏;  郭旗;  刘昌举;  任迪远;  唐遵烈
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图像传感器  电离总剂量效应  60coγ射线  电子辐照  抗辐射加固