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research on the total dose irradiation effect of partial-depletion-silicon-on insulator static random access memory 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2012, 卷号: 61, 期号: 10, 页码: -
Authors:  Li Ming;  Yu Xue-Feng;  Xue Yao-Guo;  Lu Jian;  Cui Jiang-Wei;  Gao Bo
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Partial-depletion-silicon-on Insulator  Static Random Access Memory  Total-dose Effects  Power Supply Current  
大规模集成电路抗辐射性能无损筛选方法研究 期刊论文
原子能科学技术, 2012, 卷号: 46, 期号: 11, 页码: 1388-1392
Authors:  周东;  郭旗;  李豫东;  李明;  席善斌;  许发月;  王飞
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无损筛选  辐射损伤  回归分析  物理应力  
PNP输入双极运算放大器的辐射效应 期刊论文
原子能科学技术, 2012, 卷号: 46, 期号: 2, 页码: 229-233
Authors:  许发月;  陆妩;  王义元;  席善斌;  李明;  王飞;  周东
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Pnp输入双极运算放大器  低剂量率  偏置  60coγ辐照  
Total dose ionizing irradiation effects on a static random access memory field programmable gate array 期刊论文
Journal of Semiconductors, 2012, 卷号: 33, 期号: 3, 页码: 42-47
Authors:  Gao, Bo;  Yu, Xuefeng;  Ren, Diyuan;  Li, Yudong;  Sun, Jing;  Cui, Jiangwei;  Wang, Yiyuan;  Li, Ming
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不同偏置下CMOS SRAM辐射损伤效应 期刊论文
核技术, 2012, 卷号: 35, 期号: 8, 页码: 601-605
Authors:  卢健;  余学峰;  李明;  张乐情;  崔江维;  郑齐文;  胥佳灵
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静态随机存储器  总剂量效应  不同偏置条件  辐射损伤  印记现象  
部分耗尽绝缘层附着硅静态随机存储器总剂量辐射损伤效应的研究 期刊论文
物理学报, 2012, 卷号: 61, 期号: 10, 页码: 323-329
Authors:  李明;  余学峰;  薛耀国;  卢健;  崔江维;  高博
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部分耗尽绝缘层附着硅  静态随机存储器  总剂量效应  功耗电流  
静态随机存储器总剂量辐射及退火效应研究 期刊论文
原子能科学技术, 2012, 卷号: 46, 期号: 4, 页码: 507-512
Authors:  李明;  余学峰;  许发月;  李茂顺;  高博;  崔江维;  周东;  席善斌;  王飞
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静态随机存储器  总剂量效应  功耗电流  退火效应  
SOI CMOS静态随机存储器总剂量辐射效应及评估技术的研究 学位论文
, 北京: 中国科学院研究生院, 2011
Authors:  李明
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Soi  Sram  总剂量辐射效应  评估技术  实验方法  
凝胶剂量计调强放射治疗三维剂量验证初探 期刊论文
核电子学与探测技术, 2011, 卷号: 31, 期号: 3, 页码: 327-330
Authors:  王飞;  何承发;  杨进;  于飞;  刘艳;  赵云;  孙玉润;  周东;  席善斌;  许发月;  李明
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凝胶剂量计  三维剂量验证  调强放射治疗  磁共振成像  
PNP输入双极运算放大器ELDRS效应的60Co γ辐照高温退火评估方法 期刊论文
核技术, 2011, 卷号: 34, 期号: 11, 页码: 810-814
Authors:  许发月;  陆妩;  王义元;  席善斌;  李明;  王飞;  周东
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双极运算放大器  60coγ辐照  低剂量率辐射损伤增强效应  加速评估方法