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质子辐射导致CCD热像素产生的机制研究 期刊论文
微电子学, 2018, 卷号: 48, 期号: 1, 页码: 115-119+125
Authors:  刘元;  文林;  李豫东;  何承发;  郭旗;  孙静;  冯婕;  曾俊哲;  马林东;  张翔;  王田珲
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电荷耦合器件  质子辐射效应  热像素  
双多晶自对准NPN管的总剂量辐射效应研究 期刊论文
微电子学, 2018, 卷号: 48, 期号: 1, 页码: 120-125
Authors:  贾金成;  陆妩;  吴雪;  张培健;  孙静;  王信;  李小龙;  刘默寒;  郭旗;  刘元
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双多晶自动准  Npn管  60co-γ辐射  辐射损伤  
总剂量辐射对65 nm NMOSFET热载流子敏感参数的影响 期刊论文
微电子学, 2018, 卷号: 48, 期号: 1, 页码: 126-130
Authors:  苏丹丹;  周航;  郑齐文;  崔江维;  孙静;  马腾;  魏莹;  余学峰;  郭旗
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65 Nm Nmosfet  总剂量效应  热载流子效应  
基于R-树索引的高维相似重复记录检测改进算法 期刊论文
微电子学与计算机, 2017, 卷号: 34, 期号: 9, 页码: 97-102
Authors:  宋国兴;  周喜;  马博;  赵凡
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Snm算法  R-树索引  高维空间特性  改进距离算法  数据稀疏性  
基于图数据库的文献检索方法优化与实现 期刊论文
微电子学与计算机, 2017, 卷号: 34, 期号: 10, 页码: 63-67
Authors:  林启胜;  王磊;  周喜;  赵凡;  马博
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Neo4j  数据库  数据存储  信息检索  Cypher  
基于REST架构的小额支付平台研究 期刊论文
微电子学与计算机, 2017, 卷号: 34, 期号: 10, 页码: 86-90+96
Authors:  邓玉龙;  张岩;  马玉鹏
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小额支付  Rest架构  Web服务  Soap  
电子辐照深亚微米MOS晶体管的总剂量效应简 期刊论文
微电子学, 2015, 卷号: 45, 期号: 4, 页码: 537-540+544
Authors:  文林;  李豫东;  郭旗;  孙静;  任迪远;  崔江维;  汪波;  玛丽娅
Adobe PDF(418Kb)  |  Favorite  |  View/Download:122/0  |  Submit date:2015/09/09
深亚微米  Nmosfet  电子辐照  总剂量效应  
深亚微米N沟道MOS晶体管的总剂量效应 期刊论文
微电子学, 2015, 卷号: 45, 期号: 5, 页码: 666-669
Authors:  文林;  李豫东;  郭旗;  孙静;  任迪远;  崔江维;  汪波;  玛丽娅
Adobe PDF(508Kb)  |  Favorite  |  View/Download:83/0  |  Submit date:2016/06/07
深亚微米  Nmosfet  总剂量效应  窄沟效应  
不同规模SRAM辐射损伤效应的研究 期刊论文
微电子学, 2013, 卷号: 43, 期号: 3, 页码: 426-430
Authors:  卢健;  余学峰;  郑齐文;  崔江维;  胥佳灵
Adobe PDF(1353Kb)  |  Favorite  |  View/Download:129/0  |  Submit date:2013/11/06
静态随机存储器  总剂量效应  阈值电压  
不同偏置条件下CMOS SRAM的总剂量辐射效应 期刊论文
微电子学, 2011, 卷号: 41, 期号: 1, 页码: 128-132
Authors:  李茂顺;  余学峰;  任迪远;  郭旗;  李豫东;  高博;  崔江维;  兰博;  费武雄;  陈睿;  赵云
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静态随机存取存储器  总剂量辐照  偏置条件