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Bi12TiO20粉体的熔盐法制备及光催化性能研究 期刊论文
化工新型材料, 2017, 卷号: 45, 期号: 3, 页码: 178-180
Authors:  袁想想;  邓文叶;  何洪泉;  苟欢歌;  鲁建江;  李英宣;  王传义
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熔盐法  Bi12tio20  光降解  可见光  罗丹明b  
Total ionizing dose effects on a radiation-induced BiMOS analog-to-digital converter 期刊论文
Journal of Semiconductors, 2013, 卷号: 34, 期号: 1
Authors:  Wu, Xue;  Lu, Wu;  Wang, Yiyuan;  Xu, Jialing;  Zhang, Leqing;  Lu, Jian;  Yu, Xin;  Zhang, Xingyao;  Hu, Tianle;  Lu, W
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不同规模SRAM辐射损伤效应的研究 期刊论文
微电子学, 2013, 卷号: 43, 期号: 3, 页码: 426-430
Authors:  卢健;  余学峰;  郑齐文;  崔江维;  胥佳灵
Adobe PDF(1353Kb)  |  Favorite  |  View/Download:134/0  |  Submit date:2013/11/06
静态随机存储器  总剂量效应  阈值电压  
静态随机存储器总剂量辐射效应及损伤机理的研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2012
Authors:  卢健
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Sram  大规模集成电路  不同偏置  总剂量辐射效应  辐射损伤  
The influence of channel size on total dose irradiation and hot-carrier effects of sub-micro NMOSFET 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2012, 卷号: 61, 期号: 2, 页码: -
Authors:  Cui Jiang-Wei;  Yu Xue-Feng;  Ren Di-Yuan;  Lu Jian;  Cui, JW
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Sub-micro  Total Dose Irradiation  Hot-carrier Effect  
research on the total dose irradiation effect of partial-depletion-silicon-on insulator static random access memory 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2012, 卷号: 61, 期号: 10, 页码: -
Authors:  Li Ming;  Yu Xue-Feng;  Xue Yao-Guo;  Lu Jian;  Cui Jiang-Wei;  Gao Bo
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Partial-depletion-silicon-on Insulator  Static Random Access Memory  Total-dose Effects  Power Supply Current  
半导体材料电子非电离能损的分析法计算 期刊论文
核电子学与探测技术, 2012, 卷号: 32, 期号: 7, 页码: 820-825
Authors:  于新;  何承发;  郭旗;  张兴尧;  吴雪;  张乐情;  卢建;  胥佳灵;  胡天乐
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非电离能损  Mott散射截面  林哈德因子  分子动力学模型  
应用于辐照实验的通用CCD测试电路设计 期刊论文
半导体技术, 2012, 卷号: 37, 期号: 7, 页码: 562-566
Authors:  张乐情;  郭旗;  李豫东;  卢健;  张兴尧;  胥佳灵;  于新
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电荷耦合器件  辐射效应  现场可编程门阵列  通用测试电路  电离总剂量  
Total dose irradiation and hot-carrier effects of sub-micro NMOSFETs 期刊论文
Journal of Semiconductors, 2012, 卷号: 33, 期号: 1, 页码: 64-67
Authors:  Cui, Jiangwei;  Xue, Yaoguo;  Yu, Xuefeng;  Ren, Diyuan;  Lu, Jian;  Zhang, Xingyao
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不同偏置下CMOS SRAM辐射损伤效应 期刊论文
核技术, 2012, 卷号: 35, 期号: 8, 页码: 601-605
Authors:  卢健;  余学峰;  李明;  张乐情;  崔江维;  郑齐文;  胥佳灵
Adobe PDF(692Kb)  |  Favorite  |  View/Download:174/14  |  Submit date:2012/11/29
静态随机存储器  总剂量效应  不同偏置条件  辐射损伤  印记现象