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80C31单片机电路总剂量效应研究 期刊论文
微电子学, 2005, 卷号: 35, 期号: 6, 页码: 584-586,590
Authors:  匡治兵;  郭旗;  任迪远;  李爱武;  汪东
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单片机  60coγ辐照  辐射损伤  退火