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CMOS有源像素图像传感器的电子辐照损伤效应研究 期刊论文
发光学报, 2017, 卷号: 38, 期号: 2, 页码: 182-187
Authors:  玛丽娅;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  文林;  汪波
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电子辐照  Cmos有源像素传感器  暗信号  
质子辐射下互补金属氧化物半导体有源像素传感器暗信号退化机理研究 期刊论文
物理学报, 2015, 卷号: 64, 期号: 8, 页码: 193-199
Authors:  汪波;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  文林;  任迪远;  曾骏哲;  玛丽娅
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互补金属氧化物半导体有源像素传感器  暗信号  质子辐射  位移效应  
0.5μm工艺CMOS有源像素传感器的总剂量辐射效应 期刊论文
发光学报, 2015, 卷号: 36, 期号: 2, 页码: 242-248
Authors:  汪波;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  文林;  孙静;  玛丽娅
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电离总剂量辐射效应  Cmos有源像素传感器  饱和输出信号  像素单元结构  Locos隔离  
60Co-γ射线辐照CMOS有源像素传感器诱发暗信号退化的机理研究 期刊论文
物理学报, 2014, 卷号: 63, 期号: 5, 页码: 313-319
Authors:  汪波;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  文林;  玛丽娅;  孙静;  王海娇;  丛忠超;  马武英
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Cmos有源像素传感器  暗信号  60 Co-γ射线  损伤机理  Cmos Aps  Dark Signal  60 Coγ-rays  Damage Mechanism  
γ射线辐照CMOS有源像素传感器的总剂量辐射效应研究 会议论文
, 中国甘肃兰州, 2014-08-13
Authors:  汪波;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  任迪远;  文林;  玛丽娅;  曾骏哲;  王海娇
Adobe PDF(927Kb)  |  Favorite  |  View/Download:32/0  |  Submit date:2018/06/04
Cmos Aps  暗信号  像素单元结构  电离总剂量  Locos隔离  
CMOS有源像素图像传感器的电子辐照损伤效应研究 会议论文
, 中国甘肃兰州, 2014-08-13
Authors:  玛丽娅;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  文林;  汪波
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Cmos有源像素传感器  电子辐照  电离效应  暗电流  氧化物陷阱电荷  界面态缺陷  
CCD的总剂量效应及加固方法研究 会议论文
, 三亚, 2011-11-01
Authors:  李豫东;  汪朝敏;  郭旗;  刘昌举;  任迪远;  唐遵烈
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图像传感器  电离总剂量效应  60coγ射线  电子辐照  抗辐射加固