XJIPC OpenIR

Browse/Search Results:  1-6 of 6 Help

Selected(0)Clear Items/Page:    Sort:
微纳大规模集成电路SRAM的总剂量辐射效应及评估方法研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2014
Authors:  丛忠超
Adobe PDF(1720Kb)  |  Favorite  |  View/Download:210/0  |  Submit date:2014/09/02
Sram  测试系统  辐照偏置  静态功耗电流  失效模式  
双极电压比较器电离辐射损伤及剂量率效应分析 期刊论文
物理学报, 2014, 卷号: 63, 期号: 2, 页码: 229-235
Authors:  马武英;  陆妩;  郭旗;  何承发;  吴雪;  王信;  丛忠超;  汪波;  玛丽娅
Adobe PDF(587Kb)  |  Favorite  |  View/Download:200/0  |  Submit date:2014/11/11
双极电压比较器  60 Coγ辐照  剂量率效应  辐射损伤  Bipolar Voltage Comparator  60coγ Irradiation  Dose Rate Effect  Ionization Damage  
60Co-γ射线辐照CMOS有源像素传感器诱发暗信号退化的机理研究 期刊论文
物理学报, 2014, 卷号: 63, 期号: 5, 页码: 313-319
Authors:  汪波;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  文林;  玛丽娅;  孙静;  王海娇;  丛忠超;  马武英
Adobe PDF(706Kb)  |  Favorite  |  View/Download:186/1  |  Submit date:2014/11/11
Cmos有源像素传感器  暗信号  60 Co-γ射线  损伤机理  Cmos Aps  Dark Signal  60 Coγ-rays  Damage Mechanism  
Hot-carrier effects on irradiated deep submicron NMOSFET 期刊论文
Journal of Semiconductors, 2014, 卷号: 35, 期号: 7
Authors:  Cui, Jiangwei;  Zheng, Qiwen;  Yu, Xuefeng;  Cong, Zhongchao;  Zhou, Hang;  Guo, Qi;  Wen, Lin;  Wei, Ying;  Ren, Diyuan
Adobe PDF(752Kb)  |  Favorite  |  View/Download:174/0  |  Submit date:2014/11/11
Degradation of the front and back channels in a deep submicron partially depleted SOI NMOSFET under off-state stress 期刊论文
Journal of Semiconductors, 2013, 卷号: 34, 期号: 7, 页码: 074008-1-074008-6
Authors:  Zheng, Qiwen;  Yu, Xuefeng;  Cui, Jiangwei;  Guo, Qi;  Cong, Zhongchao;  Zhang, Xingyao;  Deng, Wei;  Zhang, Xiaofu;  Wu, Zhengxin
Adobe PDF(645Kb)  |  Favorite  |  View/Download:152/0  |  Submit date:2014/11/11
Silicon-on-insulator  Hot-carrier Effect  Hump  Back Gate  
总剂量辐射环境中的静态随机存储器功能失效模式研究 期刊论文
物理学报, 2013, 卷号: 62, 期号: 11, 页码: 378-384
Authors:  郑齐文;  余学峰;  崔江维;  郭旗;  任迪远;  丛忠超
Adobe PDF(496Kb)  |  Favorite  |  View/Download:165/0  |  Submit date:2013/11/06
静态随机存储器  功能失效  测试图形  数据保存错误