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超深亚微米S0I NMOSFET关态应力下的热载流子效应 会议论文
, 济南, 2012-10-01
Authors:  郑齐文;  余学峰;  崔江维
Adobe PDF(56Kb)  |  Favorite  |  View/Download:188/1  |  Submit date:2014/11/10
Soi  超深亚微米  寄生双极效应  背栅晶体管  沟道长度  热载流子效应