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总剂量效应致0.13μm部分耗尽绝缘体上硅N型金属氧化物半导体场效应晶体管热载流子增强效应 期刊论文
物理学报, 2016, 卷号: 65, 期号: 9, 页码: 242-249
Authors:  周航;  郑齐文;  崔江维;  余学峰;  郭旗;  任迪远;  余德昭;  苏丹丹
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绝缘体上硅  电离辐射  热载流子  
电离辐射环境下的部分耗尽绝缘体上硅n型金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性研究 期刊论文
物理学报, 2015, 卷号: 64, 期号: 8, 页码: 250-256
Authors:  周航;  崔江维;  郑齐文;  郭旗;  任迪远;  余学峰
Adobe PDF(664Kb)  |  Favorite  |  View/Download:253/0  |  Submit date:2015/06/26
可靠性  绝缘体上硅n型金属氧化物半导体场效应晶体管  总剂量效应  电应力  
60Coγ射线对高铝组分Al0.5Ga0.5N基p-i-n日盲型光探测器理想因子的影响 期刊论文
物理学报, 2013, 卷号: 62, 期号: 7, 页码: 331-336
Authors:  张孝富;  李豫东;  郭旗;  罗木昌;  何承发;  于新;  申志辉;  张兴尧;  邓伟;  吴正新
Adobe PDF(486Kb)  |  Favorite  |  View/Download:189/3  |  Submit date:2013/05/24
高铝组分alxga1-xn  Γ射线辐射效应  理想因子  欧姆接触  
串口型铁电存储器总剂量辐射损伤效应和退火特性 期刊论文
物理学报, 2013, 卷号: 62, 期号: 15, 页码: 347-352
Authors:  张兴尧;  郭旗;  陆妩;  张孝富;  郑齐文;  崔江维;  李豫东;  周东
Adobe PDF(444Kb)  |  Favorite  |  View/Download:238/0  |  Submit date:2013/11/06
铁电存储器  总剂量辐射  退火特性  
总剂量辐射环境中的静态随机存储器功能失效模式研究 期刊论文
物理学报, 2013, 卷号: 62, 期号: 11, 页码: 378-384
Authors:  郑齐文;  余学峰;  崔江维;  郭旗;  任迪远;  丛忠超
Adobe PDF(496Kb)  |  Favorite  |  View/Download:169/0  |  Submit date:2013/11/06
静态随机存储器  功能失效  测试图形  数据保存错误  
部分耗尽绝缘层附着硅静态随机存储器总剂量辐射损伤效应的研究 期刊论文
物理学报, 2012, 卷号: 61, 期号: 10, 页码: 323-329
Authors:  李明;  余学峰;  薛耀国;  卢健;  崔江维;  高博
Adobe PDF(571Kb)  |  Favorite  |  View/Download:217/11  |  Submit date:2012/11/29
部分耗尽绝缘层附着硅  静态随机存储器  总剂量效应  功耗电流  
沟道宽长比对深亚微米NMOSFET总剂量辐射与热载流子损伤的影响 期刊论文
物理学报, 2012, 卷号: 61, 期号: 2, 页码: 347-353
Authors:  崔江维;  余学峰;  任迪远;  卢健
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深亚微米  总剂量辐射  热载流子效应  
双极线性稳压器电离辐射剂量率效应及其损伤分析 期刊论文
物理学报, 2011, 卷号: 60, 期号: 9, 页码: 500-508
Authors:  王义元;  陆妩;  任迪远;  郭旗;  余学峰;  何承发;  高博
Adobe PDF(560Kb)  |  Favorite  |  View/Download:155/10  |  Submit date:2012/11/29
双极线性稳压器  总剂量效应  剂量率效应  辐射损伤  
静态存储器型现场可编程门阵列总剂量辐射损伤效应研究 期刊论文
物理学报, 2011, 卷号: 60, 期号: 3, 页码: 442-447
Authors:  高博;  余学峰;  任迪远;  李豫东;  崔江维;  李茂顺;  李明;  王义元
Adobe PDF(268Kb)  |  Favorite  |  View/Download:160/9  |  Submit date:2012/11/29
60coγ  总剂量辐射损伤效应  Sram型fpga  Cmos单元  
p型金属氧化物半导体场效应晶体管低剂量率辐射损伤增强效应模型研究 期刊论文
物理学报, 2011, 卷号: 60, 期号: 6, 页码: 812-818
Authors:  高博;  余学峰;  任迪远;  崔江维;  兰博;  李明;  王义元
Adobe PDF(352Kb)  |  Favorite  |  View/Download:185/17  |  Submit date:2012/11/29
P型金属氧化物半导体场效应晶体管  60coγ射线  电离辐射损伤  低剂量率辐射损伤增强效应