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沟道宽度对65nm金属氧化物半导体器件负偏压温度不稳定性的影响研究 期刊论文
电子学报, 2018, 卷号: 46, 期号: 5, 页码: 1128-1132
Authors:  崔江维;  郑齐文;  余德昭;  周航;  苏丹丹;  马腾;  魏莹;  余学峰;  郭旗
Adobe PDF(1320Kb)  |  Favorite  |  View/Download:81/0  |  Submit date:2018/07/06
65nm  负偏压温度不稳定性  沟道宽度  
总剂量辐射对65 nm NMOSFET热载流子敏感参数的影响 期刊论文
微电子学, 2018, 卷号: 48, 期号: 1, 页码: 126-130
Authors:  苏丹丹;  周航;  郑齐文;  崔江维;  孙静;  马腾;  魏莹;  余学峰;  郭旗
Adobe PDF(1083Kb)  |  Favorite  |  View/Download:41/0  |  Submit date:2018/03/19
65 Nm Nmosfet  总剂量效应  热载流子效应  
纳米PMOSFET负偏压温度不稳定性测试方法 期刊论文
固体电子学研究与进展, 2017, 卷号: 37, 期号: 6, 页码: 433-437
Authors:  崔江维;  郑齐文;  余徳昭;  周航;  苏丹丹;  马腾;  郭旗;  余学峰
Adobe PDF(1113Kb)  |  Favorite  |  View/Download:26/0  |  Submit date:2018/01/18
纳米器件  P沟道金属氧化物半导体场效应晶体管  负偏压温度不稳定性  
总剂量效应致0.13μm部分耗尽绝缘体上硅N型金属氧化物半导体场效应晶体管热载流子增强效应 期刊论文
物理学报, 2016, 卷号: 65, 期号: 9, 页码: 242-249
Authors:  周航;  郑齐文;  崔江维;  余学峰;  郭旗;  任迪远;  余德昭;  苏丹丹
Adobe PDF(808Kb)  |  Favorite  |  View/Download:128/0  |  Submit date:2016/06/02
绝缘体上硅  电离辐射  热载流子  
辐照温度对双极线性稳压器的辐射效应影响 期刊论文
核技术, 2016, 卷号: 39, 期号: 2, 页码: 31-36
Authors:  孙静;  陆妩;  邓伟;  郭旗;  余学峰;  何承发
Adobe PDF(1075Kb)  |  Favorite  |  View/Download:128/1  |  Submit date:2016/06/02
双极线性稳压器  辐射效应  辐照温度  
Total dose responses and reliability issues of 65 nm NMOSFETs 期刊论文
Journal of Semiconductors, 2016, 卷号: 37, 期号: 6, 页码: 133-139
Authors:  Yu DZ(余德昭);  Zheng QW(郑齐文);  Cui JW(崔江维);  Zhou H(周航);  Yu XF(余学峰);  Guo Q(郭旗)
Adobe PDF(743Kb)  |  Favorite  |  View/Download:66/0  |  Submit date:2017/10/12
电离辐射环境下的部分耗尽绝缘体上硅n型金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性研究 期刊论文
物理学报, 2015, 卷号: 64, 期号: 8, 页码: 250-256
Authors:  周航;  崔江维;  郑齐文;  郭旗;  任迪远;  余学峰
Adobe PDF(664Kb)  |  Favorite  |  View/Download:253/0  |  Submit date:2015/06/26
可靠性  绝缘体上硅n型金属氧化物半导体场效应晶体管  总剂量效应  电应力  
60Coγ射线对高铝组分Al0.5Ga0.5N基p-i-n日盲型光探测器理想因子的影响 期刊论文
物理学报, 2013, 卷号: 62, 期号: 7, 页码: 331-336
Authors:  张孝富;  李豫东;  郭旗;  罗木昌;  何承发;  于新;  申志辉;  张兴尧;  邓伟;  吴正新
Adobe PDF(486Kb)  |  Favorite  |  View/Download:189/3  |  Submit date:2013/05/24
高铝组分alxga1-xn  Γ射线辐射效应  理想因子  欧姆接触  
串口型铁电存储器总剂量辐射损伤效应和退火特性 期刊论文
物理学报, 2013, 卷号: 62, 期号: 15, 页码: 347-352
Authors:  张兴尧;  郭旗;  陆妩;  张孝富;  郑齐文;  崔江维;  李豫东;  周东
Adobe PDF(444Kb)  |  Favorite  |  View/Download:238/0  |  Submit date:2013/11/06
铁电存储器  总剂量辐射  退火特性  
总剂量辐射环境中的静态随机存储器功能失效模式研究 期刊论文
物理学报, 2013, 卷号: 62, 期号: 11, 页码: 378-384
Authors:  郑齐文;  余学峰;  崔江维;  郭旗;  任迪远;  丛忠超
Adobe PDF(496Kb)  |  Favorite  |  View/Download:169/0  |  Submit date:2013/11/06
静态随机存储器  功能失效  测试图形  数据保存错误