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一种用于光电材料光致发光谱辐射损伤的测试方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN106370629A, 公开日期: 2017-02-01,
Inventors:  郭旗;  玛丽娅·黑尼;  艾尔肯·阿不都瓦衣提;  李豫东;  文林;  周东;  张兴尧;  陆妩;  余学峰;  何承发
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serial ferroelectric memory ionizing radiation effects and annealing characteristics 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2013, 卷号: 62, 期号: 15, 页码: 347-352
Authors:  Zhang Xing-Yao;  Guo Qi;  Lu Wu;  Zhang Xiao-Fu;  Zheng Qi-Wen;  Cui Jiang-Wei;  Li Yu-Dong;  Zhou Dong
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Ferroelectric Random Memory  Ionizing Radiation Effects  Annealing Characteristics  
串口型铁电存储器总剂量辐射损伤效应和退火特性 期刊论文
物理学报, 2013, 卷号: 62, 期号: 15, 页码: 347-352
Authors:  张兴尧;  郭旗;  陆妩;  张孝富;  郑齐文;  崔江维;  李豫东;  周东
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铁电存储器  总剂量辐射  退火特性  
CCD在不同注量率电子辐照下的辐射效应研究 期刊论文
原子能科学技术, 2012, 卷号: 46, 期号: 3, 页码: 346-350
Authors:  李豫东;  郭旗;  陆妩;  周东;  何承发;  余学峰
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线阵ccd  电子辐照  电离总剂量效应  时间相关效应