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一种用于光电材料光致发光谱辐射损伤的测试方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN106370629A, 公开日期: 2017-02-01,
Inventors:  郭旗;  玛丽娅·黑尼;  艾尔肯·阿不都瓦衣提;  李豫东;  文林;  周东;  张兴尧;  陆妩;  余学峰;  何承发
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