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纳米PMOSFET负偏压温度不稳定性测试方法 期刊论文
固体电子学研究与进展, 2017, 卷号: 37, 期号: 6, 页码: 433-437
Authors:  崔江维;  郑齐文;  余徳昭;  周航;  苏丹丹;  马腾;  郭旗;  余学峰
Adobe PDF(1113Kb)  |  Favorite  |  View/Download:26/0  |  Submit date:2018/01/18
纳米器件  P沟道金属氧化物半导体场效应晶体管  负偏压温度不稳定性