XJIPC OpenIR

Browse/Search Results:  1-1 of 1 Help

Filters    
Selected(0)Clear Items/Page:    Sort:
国产VDMOS器件总剂量辐射损伤及退火效应研究 会议论文
, 北京, 2009-11-18
Authors:  高博;  余学峰;  任迪远;  刘刚;  王义元;  孙静;  文林;  李茂顺;  崔江维
Adobe PDF(668Kb)  |  Favorite  |  View/Download:164/2  |  Submit date:2013/04/09
Vdmos器件  总剂量  辐射效应  退火效应