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一种基于静态随机存储器的辐照偏置系统 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN103971752A, 公开日期: 2014-08-06,
Inventors:  余学峰;  丛忠超;  郭旗;  崔江维;  郑齐文;  孙静;  周航;  汪波
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一种用于横向NPN晶体管电离辐射损伤的定量测试方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN103926519A, 公开日期: 2014-07-16,
Inventors:  陆妩;  郭旗;  马武英;  王信;  孙静;  文林;  崔江维
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基于仿真的锗硅异质结双极晶体管单粒子效应检测方法 专利
专利类型: 发明专利, 公开号: CN103645430A, 公开日期: 2014-03-19,
Inventors:  郭红霞;  郭旗;  张晋新;  文林;  陆妩;  余学峰;  何承发;  崔江维;  孙静;  席善斌;  邓伟;  王信
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Research on dark signal degradation in Co-60 gamma-ray-irradiated CMOS active pixel sensor 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2014, 卷号: 63, 期号: 5
Authors:  Wang Bo;  Li Yu-Dong;  Guo Qi;  Liu Chang-Ju;  Wen Lin;  Ma Li-Ya;  Sun Jing;  Wang Hai-Jiao;  Cong Zhong-Chao;  Ma Wu-Ying
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Cmos Aps  Dark Signal  Co-60 Gamma-rays  Damage Mechanism  
60Co-γ射线辐照CMOS有源像素传感器诱发暗信号退化的机理研究 期刊论文
物理学报, 2014, 卷号: 63, 期号: 5, 页码: 313-319
Authors:  汪波;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  文林;  玛丽娅;  孙静;  王海娇;  丛忠超;  马武英
Adobe PDF(706Kb)  |  Favorite  |  View/Download:197/1  |  Submit date:2014/11/11
Cmos有源像素传感器  暗信号  60 Co-γ射线  损伤机理  Cmos Aps  Dark Signal  60 Coγ-rays  Damage Mechanism  
Online and offline test method of total dose radiation damage on static random access memory 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2014, 卷号: 63, 期号: 8, 页码: 329-335
Authors:  Cong, Zhong-Chao;  Yu, Xue-Feng;  Cui, Jiang-Wei;  Zheng, Qi-Wen;  Guo, Qi;  Sun, Jing;  Wang, Bo;  Ma, Wu-Ying;  Ma, Li-Ya;  Zhou, Hang
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