XJIPC OpenIR

Browse/Search Results:  1-10 of 12 Help

Filters    
Selected(0)Clear Items/Page:    Sort:
质子辐射导致CCD热像素产生的机制研究 期刊论文
微电子学, 2018, 卷号: 48, 期号: 1, 页码: 115-119+125
Authors:  刘元;  文林;  李豫东;  何承发;  郭旗;  孙静;  冯婕;  曾俊哲;  马林东;  张翔;  王田珲
Adobe PDF(756Kb)  |  Favorite  |  View/Download:45/0  |  Submit date:2018/03/19
电荷耦合器件  质子辐射效应  热像素  
电子辐照深亚微米MOS晶体管的总剂量效应简 期刊论文
微电子学, 2015, 卷号: 45, 期号: 4, 页码: 537-540+544
Authors:  文林;  李豫东;  郭旗;  孙静;  任迪远;  崔江维;  汪波;  玛丽娅
Adobe PDF(418Kb)  |  Favorite  |  View/Download:126/0  |  Submit date:2015/09/09
深亚微米  Nmosfet  电子辐照  总剂量效应  
深亚微米N沟道MOS晶体管的总剂量效应 期刊论文
微电子学, 2015, 卷号: 45, 期号: 5, 页码: 666-669
Authors:  文林;  李豫东;  郭旗;  孙静;  任迪远;  崔江维;  汪波;  玛丽娅
Adobe PDF(508Kb)  |  Favorite  |  View/Download:85/0  |  Submit date:2016/06/07
深亚微米  Nmosfet  总剂量效应  窄沟效应  
CMOS有源像素传感器的中子辐照位移损伤效应 期刊论文
强激光与粒子束, 2015, 卷号: 27, 期号: 9, 页码: 210-214
Authors:  汪波;  李豫东;  郭旗;  文林;  孙静;  王帆;  王帆;  玛丽娅
Adobe PDF(398Kb)  |  Favorite  |  View/Download:162/0  |  Submit date:2016/06/07
Cmos有源像素传感器  中子辐照  像素单元  饱和输出电压  位移效应  
0.5μm工艺CMOS有源像素传感器的总剂量辐射效应 期刊论文
发光学报, 2015, 卷号: 36, 期号: 2, 页码: 242-248
Authors:  汪波;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  文林;  孙静;  玛丽娅
Adobe PDF(1122Kb)  |  Favorite  |  View/Download:149/0  |  Submit date:2015/03/25
电离总剂量辐射效应  Cmos有源像素传感器  饱和输出信号  像素单元结构  Locos隔离  
60Co-γ射线辐照CMOS有源像素传感器诱发暗信号退化的机理研究 期刊论文
物理学报, 2014, 卷号: 63, 期号: 5, 页码: 313-319
Authors:  汪波;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  文林;  玛丽娅;  孙静;  王海娇;  丛忠超;  马武英
Adobe PDF(706Kb)  |  Favorite  |  View/Download:197/1  |  Submit date:2014/11/11
Cmos有源像素传感器  暗信号  60 Co-γ射线  损伤机理  Cmos Aps  Dark Signal  60 Coγ-rays  Damage Mechanism  
氧化层厚度对NPN双极管辐射损伤的影响 期刊论文
核技术, 2012, 卷号: 35, 期号: 2, 页码: 104-108
Authors:  席善斌;  陆妩;  王志宽;  任迪远;  周东;  文林;  孙静
Adobe PDF(670Kb)  |  Favorite  |  View/Download:236/16  |  Submit date:2012/11/29
Npn双极晶体管  60coγ辐照  氧化层厚度  剂量率效应  
中带电压法分离栅控横向pnp双极晶体管辐照感生缺陷 期刊论文
物理学报, 2012, 卷号: 61, 期号: 7, 页码: 350-355
Authors:  席善斌;  陆妩;  王志宽;  任迪远;  周东;  文林;  孙静
Adobe PDF(626Kb)  |  Favorite  |  View/Download:252/8  |  Submit date:2012/11/29
中带电压法  栅控  横向pnp双极晶体管  电荷分离  
栅控横向PNP双极晶体管电离辐射效应 期刊论文
核技术, 2012, 卷号: 35, 期号: 11, 页码: 827-832
Authors:  席善斌;  陆妩;  任迪远;  王志宽;  周东;  文林;  孙静
Adobe PDF(983Kb)  |  Favorite  |  View/Download:162/2  |  Submit date:2013/11/07
Pnp双极晶体管  60co-gamma辐照  辐照感生电荷  电荷分离  
屏蔽材料封装CMOS器件的电子辐照损伤 期刊论文
核电子学与探测技术, 2009, 卷号: 29, 期号: 2, 页码: 398-401
Authors:  文林;  郭旗;  张军;  任迪远;  孙静;  郑玉展;  王改丽
Adobe PDF(136Kb)  |  Favorite  |  View/Download:180/16  |  Submit date:2012/11/29
抗辐射屏蔽材料  Cmos  电子辐照  静态功耗电流