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预先老化对注FnMOS器件辐射可靠性的影响 期刊论文
半导体学报, 2005, 卷号: 26, 期号: 1, 页码: 111-114
Authors:  崔帅;  余学峰;  任迪远;  张华林;  艾尔肯
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预先老化  辐照  注f  可靠性  
预先老化对注FnMOS器件辐射可靠性的影响 期刊论文
半导体学报, 2005, 期号: 1, 页码: 111-114
Authors:  崔帅;  余学峰;  任迪远;  张华林;  艾尔肯
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预先老化  辐照  注f  可靠性  
双极晶体管的低剂量率电离辐射效应 期刊论文
半导体学报, 2004, 卷号: 25, 期号: 12, 页码: 1675-1679
Authors:  张华林;  陆妩;  任迪远;  郭旗;  余学锋;  何承发;  艾尔肯;  崔帅
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低剂量率  电离辐射  双极晶体管  空间电荷