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SRAM型FPGA器件总剂量辐射效应及评估技术的研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2011
Authors:  高博
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Sram型fpga器件  总剂量效应  辐射损伤  评估技术  试验方法  
星载DC-DC电源转换器总剂量辐射损伤效应研究 期刊论文
原子能科学技术, 2011, 卷号: 45, 期号: 7, 页码: 888-892
Authors:  高博;  余学峰;  任迪远;  李豫东;  李茂顺;  崔江维;  王义元;  吾勤之;  刘伟鑫
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Dc-dc电源转换器  辐射损伤效应  退火效应