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3MeV质子辐照下背照式CMOS图像传感器固定模式噪声的退化行为 期刊论文
现代应用物理, 2019, 卷号: 10, 期号: 1, 页码: 50-53
Authors:  张翔;  李豫东;  郭旗;  文林;  周东;  冯婕;  马林东;  蔡毓龙;  王志铭
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背照式CMOS图像传感器  3MeV质子  固定模式噪声  位移效应  电离总剂量效应  
CCD及CMOS图像传感器的质子位移损伤等效分析 期刊论文
现代应用物理, 2019, 卷号: 10, 期号: 2, 页码: 44-48
Authors:  于新;  荀明珠;  郭旗;  何承发;  李豫东;  文林;  张兴尧;  周东
Adobe PDF(938Kb)  |  Favorite  |  View/Download:29/0  |  Submit date:2019/07/29
位移损伤效应  非电离能量损失  CCD  CMOS