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中亚沙棘化学成分及保肝有效组分研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2014
Authors:  李寅庆
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中亚沙棘  化学成分  黄酮  油脂  总三萜  总酚  保肝  
新型非易失存储器电离辐射效应及机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2014
Authors:  张兴尧
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新型非易失存储器  传统非易失存储器  总剂量效应  辐射敏感参数  
高速深亚微米CMOS模数/数模转换器辐射效应、损伤机理及评估方法研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2014
Authors:  吴雪
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深亚微米  高速模数/数模转换器  辐照偏置条件  总剂量效应  单粒子效应  加速评估方法  
微纳大规模集成电路SRAM的总剂量辐射效应及评估方法研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2014
Authors:  丛忠超
Adobe PDF(1720Kb)  |  Favorite  |  View/Download:211/0  |  Submit date:2014/09/02
Sram  测试系统  辐照偏置  静态功耗电流  失效模式  
双极电压比较器电离辐射损伤及剂量率效应分析 期刊论文
物理学报, 2014, 卷号: 63, 期号: 2, 页码: 229-235
Authors:  马武英;  陆妩;  郭旗;  何承发;  吴雪;  王信;  丛忠超;  汪波;  玛丽娅
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双极电压比较器  60 Coγ辐照  剂量率效应  辐射损伤  Bipolar Voltage Comparator  60coγ Irradiation  Dose Rate Effect  Ionization Damage  
The total dose effects on the 1/f noise of deep submicron CMOS transistors 期刊论文
Journal of Semiconductors, 2014, 卷号: 35, 期号: 2, 页码: 7015-7021
Authors:  Hu, Rongbin;  Wang, Yuxin;  Lu, Wu
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Research on dark signal degradation in Co-60 gamma-ray-irradiated CMOS active pixel sensor 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2014, 卷号: 63, 期号: 5
Authors:  Wang Bo;  Li Yu-Dong;  Guo Qi;  Liu Chang-Ju;  Wen Lin;  Ma Li-Ya;  Sun Jing;  Wang Hai-Jiao;  Cong Zhong-Chao;  Ma Wu-Ying
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Cmos Aps  Dark Signal  Co-60 Gamma-rays  Damage Mechanism  
60Co-γ射线辐照CMOS有源像素传感器诱发暗信号退化的机理研究 期刊论文
物理学报, 2014, 卷号: 63, 期号: 5, 页码: 313-319
Authors:  汪波;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  文林;  玛丽娅;  孙静;  王海娇;  丛忠超;  马武英
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Cmos有源像素传感器  暗信号  60 Co-γ射线  损伤机理  Cmos Aps  Dark Signal  60 Coγ-rays  Damage Mechanism  
栅控横向PNP双极晶体管基极电流峰值展宽效应及电荷分离研究 期刊论文
物理学报, 2014, 卷号: 63, 期号: 11, 页码: 226-231
Authors:  马武英;  王志宽;  陆妩;  席善斌;  郭旗;  何承发;  王信;  刘默寒;  姜柯
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栅控双极pnp晶体管  60 Coγ辐照  辐射损伤  Gclpnp Bjts  60coγ Irradiation  Ionizing Damage  
Pattern imprinting in deep sub-micron static random access memories induced by total dose irradiation 期刊论文
Chinese Physics B, 2014, 卷号: 23, 期号: 10, 页码: 366-372
Authors:  Zheng, Qi-Wen;  Yu, Xue-Feng;  Cui, Jiang-Wei;  Guo, Qi;  Ren, Di-Yuan;  Cong, Zhong-Chao;  Zhou, Hang
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Total Dose Irradiation  Static Random Access Memory  Pattern Imprinting  Deep Sub-micron