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CMOS有源像素图像传感器的电子辐照损伤效应研究 期刊论文
发光学报, 2017, 卷号: 38, 期号: 2, 页码: 182-187
Authors:  玛丽娅;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  文林;  汪波
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电子辐照  Cmos有源像素传感器  暗信号  
基于4晶体管像素结构的互补金属氧化物半导体图像传感器总剂量辐射效应研究 期刊论文
物理学报, 2016, 卷号: 65, 期号: 2, 页码: 180-185
Authors:  王帆;  李豫东;  郭旗;  汪波;  张兴尧;  文林;  何承发
Adobe PDF(590Kb)  |  Favorite  |  View/Download:171/0  |  Submit date:2016/03/01
互补金属氧化物半导体图像传感器  电离总剂量效应  钳位二极管  满阱容量  
温度对4管像素结构CMOS图像传感器性能参数的影响 期刊论文
发光学报, 2016, 卷号: 37, 期号: 3, 页码: 332-337
Authors:  王帆;  李豫东;  郭旗;  汪波;  张兴尧
Adobe PDF(377Kb)  |  Favorite  |  View/Download:156/0  |  Submit date:2016/06/02
Cmos图像传感器  转换增益  满阱容量  暗电流  温度  
辐照温度对双极线性稳压器的辐射效应影响 期刊论文
核技术, 2016, 卷号: 39, 期号: 2, 页码: 31-36
Authors:  孙静;  陆妩;  邓伟;  郭旗;  余学峰;  何承发
Adobe PDF(1075Kb)  |  Favorite  |  View/Download:128/1  |  Submit date:2016/06/02
双极线性稳压器  辐射效应  辐照温度  
Total dose responses and reliability issues of 65 nm NMOSFETs 期刊论文
Journal of Semiconductors, 2016, 卷号: 37, 期号: 6, 页码: 133-139
Authors:  Yu DZ(余德昭);  Zheng QW(郑齐文);  Cui JW(崔江维);  Zhou H(周航);  Yu XF(余学峰);  Guo Q(郭旗)
Adobe PDF(743Kb)  |  Favorite  |  View/Download:66/0  |  Submit date:2017/10/12
偏置条件对NPN型锗硅异质结双极晶体管电离辐射效应的影响 期刊论文
核技术, 2015, 卷号: 38, 期号: 6, 页码: 38-44
Authors:  刘默寒;  陆妩;  马武英;  王信;  郭旗;  何承发;  姜柯
Adobe PDF(1646Kb)  |  Favorite  |  View/Download:128/0  |  Submit date:2015/09/10
锗硅异质结双极晶体管  总剂量效应  偏置条件  退火  
电子辐射环境中NPN输入双极运算放大器的辐射效应和退火特性 期刊论文
物理学报, 2015, 卷号: 64, 期号: 13, 页码: 302-308
Authors:  姜柯;  陆妩;  胡天乐;  王信;  郭旗;  何承发;  刘默涵;  李小龙
Adobe PDF(844Kb)  |  Favorite  |  View/Download:119/0  |  Submit date:2015/09/09
Npn输入双极运算放大器  电子辐射  辐射效应  退火  
双极电压比较器电离辐射损伤及剂量率效应分析 期刊论文
物理学报, 2014, 卷号: 63, 期号: 2, 页码: 229-235
Authors:  马武英;  陆妩;  郭旗;  何承发;  吴雪;  王信;  丛忠超;  汪波;  玛丽娅
Adobe PDF(587Kb)  |  Favorite  |  View/Download:204/0  |  Submit date:2014/11/11
双极电压比较器  60 Coγ辐照  剂量率效应  辐射损伤  Bipolar Voltage Comparator  60coγ Irradiation  Dose Rate Effect  Ionization Damage  
60Co-γ射线辐照CMOS有源像素传感器诱发暗信号退化的机理研究 期刊论文
物理学报, 2014, 卷号: 63, 期号: 5, 页码: 313-319
Authors:  汪波;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  文林;  玛丽娅;  孙静;  王海娇;  丛忠超;  马武英
Adobe PDF(706Kb)  |  Favorite  |  View/Download:197/1  |  Submit date:2014/11/11
Cmos有源像素传感器  暗信号  60 Co-γ射线  损伤机理  Cmos Aps  Dark Signal  60 Coγ-rays  Damage Mechanism  
栅控横向PNP双极晶体管基极电流峰值展宽效应及电荷分离研究 期刊论文
物理学报, 2014, 卷号: 63, 期号: 11, 页码: 226-231
Authors:  马武英;  王志宽;  陆妩;  席善斌;  郭旗;  何承发;  王信;  刘默寒;  姜柯
Adobe PDF(574Kb)  |  Favorite  |  View/Download:176/1  |  Submit date:2014/11/11
栅控双极pnp晶体管  60 Coγ辐照  辐射损伤  Gclpnp Bjts  60coγ Irradiation  Ionizing Damage