XJIPC OpenIR

Browse/Search Results:  1-10 of 237 Help

Filters                
Selected(0)Clear Items/Page:    Sort:
氮掺杂荧光碳点的制备及其传感和成像性能研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2018
Authors:  罗亮
Adobe PDF(3886Kb)  |  Favorite  |  View/Download:44/0  |  Submit date:2018/07/06
碳点  重金属检测  氮化碳  荧光成像  
Li-Ni-Co-Mn-O系正极材料的制备及其表面改性研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2018
Authors:  吕丁丁
Adobe PDF(3747Kb)  |  Favorite  |  View/Download:32/0  |  Submit date:2018/07/06
镍钴锰酸锂  电化学性能  表面改性  锂离子电池  
La1-xBaxCrO3-YSZ复合陶瓷的构筑及热敏特性研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2018
Authors:  陈明星
Adobe PDF(3552Kb)  |  Favorite  |  View/Download:53/0  |  Submit date:2018/07/06
Ntc复合陶瓷电阻  钙钛矿相  电性能  导电机理  
Mn-Co-M(Al、Mg、Sr)-Ni-O系薄膜的制备及性能研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2018
Authors:  张珺
Adobe PDF(4117Kb)  |  Favorite  |  View/Download:31/0  |  Submit date:2018/07/06
化学溶液沉积法  薄膜  负温度系数热敏电阻  稳定性  复合结构  
国产pnp双极晶体管在宽总剂量范围辐照下的ELDRS 期刊论文
半导体技术, 2018, 卷号: 43, 期号: 5, 页码: 369-374
Authors:  魏昕宇;  陆妩;  李小龙;  王信;  孙静;  于新;  姚帅;  刘默寒;  郭旗
Adobe PDF(2030Kb)  |  Favorite  |  View/Download:185/0  |  Submit date:2018/06/13
国产pnp型双极晶体管  宽总剂量范围  低剂量率损伤增强效应(Eldrs)  辐射损伤  剂量率  
总剂量辐射对65 nm NMOSFET热载流子敏感参数的影响 期刊论文
微电子学, 2018, 卷号: 48, 期号: 1, 页码: 126-130
Authors:  苏丹丹;  周航;  郑齐文;  崔江维;  孙静;  马腾;  魏莹;  余学峰;  郭旗
Adobe PDF(1083Kb)  |  Favorite  |  View/Download:41/0  |  Submit date:2018/03/19
65 Nm Nmosfet  总剂量效应  热载流子效应  
辐射环境下的微纳米器件可靠性变化机理与试验方法研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  周航
Adobe PDF(3489Kb)  |  Favorite  |  View/Download:60/0  |  Submit date:2017/09/26
Cmos  热载流子  辐射效应  重离子辐照  Tddb  
科学级帧转移电荷耦合成像器件位移损伤效应与机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  曾骏哲
Adobe PDF(3212Kb)  |  Favorite  |  View/Download:58/0  |  Submit date:2017/09/26
电荷耦合器件  位移损伤  位移缺陷  低温测试  仿真模拟  
正向晶格失配三结GaAs太阳电池辐射效应研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  李占行
Adobe PDF(2989Kb)  |  Favorite  |  View/Download:67/0  |  Submit date:2017/09/26
晶格失配  位移损伤效应  位移损伤剂量  非电离能损  辐照退化  
γ射线和电子束对SOI MOSFET栅介质可靠性影响研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  苏丹丹
Adobe PDF(6461Kb)  |  Favorite  |  View/Download:57/0  |  Submit date:2017/09/26
Mosfet  Tddb  辐射效应  可靠性