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CCD器件总剂量辐射损伤的剂量率效应 会议论文
, 沈阳, 2009
Authors:  李鹏伟;  郭旗;  任迪远;  于跃;  王义元;  高博
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氧化物电荷  时间相关效应  辐射损伤  剂量率效应  光响应灵敏度  电荷耦合器件  
抗辐射加固封装国产存储器电子辐照试验研究 会议论文
, 沈阳, 2009
Authors:  卫宁;  王剑峰;  杜婕;  周聪莉;  郭旗;  文林
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抗辐射封装  电离辐射  电子辐照  国产存储器  
典型光电器件总剂量辐照效应试验研究 会议论文
, 沈阳, 2009
Authors:  吾勤之;  许导进;  刘伟鑫;  于跃;  郭旗;  孙静
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总剂量效应  光电器件  氧化物陷阱电荷  界面态陷阱电荷  红外发光二极管  损伤机理  
不同发射极面积NPN晶体管高低剂量率辐射损伤特性 会议论文
, 沈阳, 2009
Authors:  郑玉展;  陆妩;  任迪远;  王义元;  郭旗;  余学锋;  何承发
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发射极面积  晶体管  剂量率  辐射损伤  
双极运算放大器ELDRS效应的变温加速辐照方法研究 会议论文
, 沈阳, 2009-07-01
Authors:  陆妩;  任迪远;  郑玉展;  郭旗;  余学峰
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运算放大器  变温辐照  加速评估  损伤增强效应