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CCD空间累积辐射效应及损伤机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2015
Authors:  文林
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电荷耦合器件  电离总剂量效应  位移效应  损伤机理  敏感参数  基本单元  
质子辐照导致科学级电荷耦合器件电离效应和位移效应分析 期刊论文
物理学报, 2015, 卷号: 64, 期号: 2, 页码: 257-263
Authors:  文林;  李豫东;  郭旗;  任迪远;  汪波;  玛丽娅
Adobe PDF(633Kb)  |  Favorite  |  View/Download:163/1  |  Submit date:2015/03/04
电荷耦合器件  质子辐照  电离效应  位移损伤