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科学级帧转移电荷耦合成像器件位移损伤效应与机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  曾骏哲
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电荷耦合器件  位移损伤  位移缺陷  低温测试  仿真模拟  
60Co-γ射线和电子束对CCD辐射效应的比较研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2016
Authors:  武大猷
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电荷耦合器件  60co-γ辐照  电子辐照  辐射损伤  低剂量率损伤增强效应  
0.5μm工艺CMOS有源像素传感器的总剂量辐射效应 期刊论文
发光学报, 2015, 卷号: 36, 期号: 2, 页码: 242-248
Authors:  汪波;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  文林;  孙静;  玛丽娅
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电离总剂量辐射效应  Cmos有源像素传感器  饱和输出信号  像素单元结构  Locos隔离  
Thermodynamic impact on total dose effect for semiconductor components 期刊论文
Faguang Xuebao/Chinese Journal of Luminescence, 2014, 卷号: 35, 期号: 4, 页码: 465-469
Authors:  Cong, Zhong-Chao;  Yu, Xue-Feng;  Cui, Jiang-Wei;  Zheng, Qi-Wen;  Guo, Qi;  Sun, Jing;  Zhou, Hang
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γ射线辐照CMOS有源像素传感器的总剂量辐射效应研究 会议论文
, 中国甘肃兰州, 2014-08-13
Authors:  汪波;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  任迪远;  文林;  玛丽娅;  曾骏哲;  王海娇
Adobe PDF(927Kb)  |  Favorite  |  View/Download:33/0  |  Submit date:2018/06/04
Cmos Aps  暗信号  像素单元结构  电离总剂量  Locos隔离  
低能电子束非电离能损(NIEL)的研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2012
Authors:  于新
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Niel  位移损伤效应  林哈德因子  P-i-n光电二极管  Led  
TDI-CCD辐射效应测试技术及总剂量效应研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2012
Authors:  张乐情
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Tdi-ccd  60co-γ射线  电子辐照  辐射损伤  退火  
应用于辐照实验的通用CCD测试电路设计 期刊论文
半导体技术, 2012, 卷号: 37, 期号: 7, 页码: 562-566
Authors:  张乐情;  郭旗;  李豫东;  卢健;  张兴尧;  胥佳灵;  于新
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电荷耦合器件  辐射效应  现场可编程门阵列  通用测试电路  电离总剂量  
SRAM型FPGA器件总剂量辐射效应及评估技术的研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2011
Authors:  高博
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Sram型fpga器件  总剂量效应  辐射损伤  评估技术  试验方法