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高总剂量水平双极器件剂量率效应及加速评估试验方法的研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2018
Authors:  李小龙
Adobe PDF(3941Kb)  |  Favorite  |  View/Download:47/0  |  Submit date:2018/07/06
双极晶体管  剂量率效应  低剂量率损伤增强效应  损伤机制  变温加速评估方法  
Using temperature-switching approach to evaluate the ELDRS of bipolar devices 期刊论文
RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS, 2018, 卷号: 172, 期号: 11-12, 页码: 824-834
Authors:  Li, XL (Li, Xiaolong);  Lu, W (Lu, Wu);  Wang, X (Wang, Xin);  Guo, Q (Guo, Qi);  Yu, X (Yu, Xin);  He, CF (He, Chengfa);  Sun, J (Sun, Jing);  Liu, MH (Liu, Mohan);  Yao, S (Yao, Shuai);  Wei, XY (Wei, Xinyu)查看 ResearcherID 和 ORCID
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Bipolar Technology  Co-60 Gamma Irradiation  Enhanced Low-dose Rate Sensitivity (Eldrs)  Temperature-switching Approach (Tsa)  
辐照温度对双极线性稳压器的辐射效应影响 期刊论文
核技术, 2016, 卷号: 39, 期号: 2, 页码: 31-36
Authors:  孙静;  陆妩;  邓伟;  郭旗;  余学峰;  何承发
Adobe PDF(1075Kb)  |  Favorite  |  View/Download:121/1  |  Submit date:2016/06/02
双极线性稳压器  辐射效应  辐照温度  
典型运放、比较器的电离与位移辐射损伤效应 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2015
Authors:  姜柯
Adobe PDF(2075Kb)  |  Favorite  |  View/Download:268/0  |  Submit date:2015/06/15
60coγ辐照源  质子辐射  电子辐射  中子辐射  双极器件  辐射效应  
Radiation damage effect and post-annealing treatments of NPN-input bipolar operational amplifier in electron radiation environment 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2015, 卷号: 64, 期号: 13, 页码: 302-308
Authors:  Jiang, K (Jiang Ke);  Lu, W (Lu Wu);  Hu, TL (Hu Tian-Le);  Wang, X (Wang Xin);  Guo, Q (Guo Qi);  He, CF (He Cheng-Fa);  Liu, MH (Liu Mo-Han);  Li, XL (Li Xiao-Long)
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Npn-input Bipolar Operational Amplifier  Electron Radiation  Radiation Effect  Annealing  
高速深亚微米CMOS模数/数模转换器辐射效应、损伤机理及评估方法研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2014
Authors:  吴雪
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深亚微米  高速模数/数模转换器  辐照偏置条件  总剂量效应  单粒子效应  加速评估方法  
Total ionizing dose effects on 12-bit CBCMOS digital-to-analog converters 期刊论文
Journal of Semiconductors, 2013, 卷号: 34, 期号: 12, 页码: 57-63
Authors:  Wang, Xin;  Lu, Wu;  Guo, Qi;  Wu, Xue;  Xi, Shanbin;  Deng, Wei;  Cui, Jiangwei;  Zhang, Jinxin
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Total ionizing dose effects on a radiation-induced BiMOS analog-to-digital converter 期刊论文
Journal of Semiconductors, 2013, 卷号: 34, 期号: 1
Authors:  Wu, Xue;  Lu, Wu;  Wang, Yiyuan;  Xu, Jialing;  Zhang, Leqing;  Lu, Jian;  Yu, Xin;  Zhang, Xingyao;  Hu, Tianle;  Lu, W
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典型器件和电路不同剂量率的辐射效应 期刊论文
信息与电子工程, 2012, 卷号: 10, 期号: 4, 页码: 484-489
Authors:  陆妩;  任迪远;  郑玉展;  王义元;  郭旗;  余学峰;  何承发
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双极类模拟电路  Cmos类电路  60coγ辐照  剂量率效应  
典型双极模拟集成电路电离辐射效应及机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2011
Authors:  王义元
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电离辐射  偏置条件  低剂量率损伤增强效应  模拟电路  数模/模数转换器