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空间高能粒子对纳米器件栅介质可靠性影响的研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2018
Authors:  马腾
Adobe PDF(2664Kb)  |  Favorite  |  View/Download:32/0  |  Submit date:2018/07/06
金属氧化物半导体  辐射效应  可靠性  辐射诱导泄漏电流  介质经时击穿  
辐射环境下的微纳米器件可靠性变化机理与试验方法研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  周航
Adobe PDF(3489Kb)  |  Favorite  |  View/Download:56/0  |  Submit date:2017/09/26
Cmos  热载流子  辐射效应  重离子辐照  Tddb  
γ射线和电子束对SOI MOSFET栅介质可靠性影响研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  苏丹丹
Adobe PDF(6461Kb)  |  Favorite  |  View/Download:54/0  |  Submit date:2017/09/26
Mosfet  Tddb  辐射效应  可靠性  
星用纳米MOS器件的总剂量辐射效应与NBTI效应研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2016
Authors:  余德昭
Adobe PDF(1666Kb)  |  Favorite  |  View/Download:135/0  |  Submit date:2016/09/27
Mosfet  辐射效应  Nbti  可靠性  
电荷耦合器件中子辐照诱发的位移效应 期刊论文
发光学报, 2016, 卷号: 37, 期号: 1, 页码: 44-49
Authors:  汪波;  李豫东;  郭旗;  汪朝敏;  文林
Adobe PDF(762Kb)  |  Favorite  |  View/Download:122/1  |  Submit date:2016/03/01
电荷耦合器件  中子辐照  位移效应  电荷转移效率  暗信号  
电荷耦合器件的γ辐照剂量率效应研究 期刊论文
发光学报, 2016, 卷号: 37, 期号: 6, 页码: 711-719
Authors:  武大猷;  文林;  汪朝敏;  何承发;  郭旗;  李豫东;  曾俊哲;  汪波;  刘元
Adobe PDF(678Kb)  |  Favorite  |  View/Download:96/0  |  Submit date:2016/12/03
电荷耦合器件  暗信号  低剂量率损伤增强效应  暗场像素统计  
CCD空间累积辐射效应及损伤机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2015
Authors:  文林
Adobe PDF(3260Kb)  |  Favorite  |  View/Download:251/0  |  Submit date:2015/06/15
电荷耦合器件  电离总剂量效应  位移效应  损伤机理  敏感参数  基本单元  
质子、中子、60Co-γ射线辐照对电荷耦合器件饱和输出电压的影响 期刊论文
红外与激光工程, 2015, 卷号: 44, 期号: S1, 页码: 35-40
Authors:  汪波;  文林;  李豫东;  郭旗;  汪朝敏;  王帆;  任迪远;  曾骏哲;  武大猷
Adobe PDF(467Kb)  |  Favorite  |  View/Download:128/0  |  Submit date:2016/06/02
电荷耦合器件  高能粒子辐照  饱和输出电压  电离总剂量效应  
微纳大规模集成电路SRAM的总剂量辐射效应及评估方法研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2014
Authors:  丛忠超
Adobe PDF(1720Kb)  |  Favorite  |  View/Download:210/0  |  Submit date:2014/09/02
Sram  测试系统  辐照偏置  静态功耗电流  失效模式  
基于新型双极测试结构的低剂量率辐照感生缺陷研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2013
Authors:  席善斌
Adobe PDF(5467Kb)  |  Favorite  |  View/Download:199/2  |  Submit date:2013/05/31
低剂量率辐射损伤增强效应  栅控晶体管  电荷分离  损伤机理  竞争模型