XJIPC OpenIR

Browse/Search Results:  1-10 of 14 Help

Selected(0)Clear Items/Page:    Sort:
静态随机存储器总剂量辐射损伤机制及试验方法研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2015
Authors:  郑齐文
Adobe PDF(7082Kb)  |  Favorite  |  View/Download:188/0  |  Submit date:2015/06/15
大规模集成电路  总剂量辐射  静态随机存储器  损伤机制  试验方法  
新型非易失存储器电离辐射效应及机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2014
Authors:  张兴尧
Adobe PDF(2943Kb)  |  Favorite  |  View/Download:325/2  |  Submit date:2014/08/05
新型非易失存储器  传统非易失存储器  总剂量效应  辐射敏感参数  
Online and offline test method of total dose radiation damage on static random access memory 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2014, 卷号: 63, 期号: 8, 页码: 329-335
Authors:  Cong, Zhong-Chao;  Yu, Xue-Feng;  Cui, Jiang-Wei;  Zheng, Qi-Wen;  Guo, Qi;  Sun, Jing;  Wang, Bo;  Ma, Wu-Ying;  Ma, Li-Ya;  Zhou, Hang
Adobe PDF(3161Kb)  |  Favorite  |  View/Download:157/0  |  Submit date:2014/11/11
Online-test  Offline-test  Static Random Access Memory  Functional Test  
星用超深亚微米CMOS器件辐射效应及其可靠性研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2012
Authors:  崔江维
Adobe PDF(1798Kb)  |  Favorite  |  View/Download:112/0  |  Submit date:2016/05/10
超深亚微米器件  总剂量辐射  热载流子效应  负偏置温度不稳定性  相互作用  
典型双极模拟集成电路电离辐射效应及机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2011
Authors:  王义元
Adobe PDF(2132Kb)  |  Favorite  |  View/Download:101/0  |  Submit date:2016/05/24
电离辐射  偏置条件  低剂量率损伤增强效应  模拟电路  数模/模数转换器  
SRAM型FPGA器件总剂量辐射效应及评估技术的研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2011
Authors:  高博
Adobe PDF(6679Kb)  |  Favorite  |  View/Download:87/0  |  Submit date:2016/05/24
Sram型fpga器件  总剂量效应  辐射损伤  评估技术  试验方法  
Research on the total-dose irradiation damage effect for static random access memory-based field programmable gate array 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2011, 卷号: 60, 期号: 3, 页码: 442-447
Authors:  Gao Bo;  Yu Xue-Feng;  Ren Di-Yuan;  Li Yu-Dong;  Cui Jiang-Wei;  Li Mao-Shun;  Li Ming;  Wang Yi-Yuan
Adobe PDF(268Kb)  |  Favorite  |  View/Download:184/5  |  Submit date:2012/11/29
(60)Co Gamma  Total-dose Irradiation Damage Effects  Sram-based Fpga  Cmos Cell  
静态存储器型现场可编程门阵列总剂量辐射损伤效应研究 期刊论文
物理学报, 2011, 卷号: 60, 期号: 3, 页码: 442-447
Authors:  高博;  余学峰;  任迪远;  李豫东;  崔江维;  李茂顺;  李明;  王义元
Adobe PDF(268Kb)  |  Favorite  |  View/Download:157/9  |  Submit date:2012/11/29
60coγ  总剂量辐射损伤效应  Sram型fpga  Cmos单元  
Altera SRAM型FPGA器件总剂量辐射损伤及退火效应 期刊论文
强激光与粒子束, 2010, 卷号: 22, 期号: 11, 页码: 2724-2728
Authors:  高博;  余学峰;  任迪远;  王义元;  李豫东;  孙静;  李茂顺;  崔江维
Adobe PDF(398Kb)  |  Favorite  |  View/Download:174/14  |  Submit date:2012/11/29
Sram型fpga  60coγ  总剂量辐射损伤效应  退火效应  
星载DC/DC电源转换器总剂量效应研究 会议论文
, 贵阳, 2010-08-13
Authors:  高博;  余学峰;  任迪远;  吾勤之;  刘伟鑫;  李豫东;  李茂顺;  崔江维;  王义元
Adobe PDF(1875Kb)  |  Favorite  |  View/Download:232/2  |  Submit date:2013/04/09
Dc/dc电源转换器  60coγ  辐射损伤效应  退火效应