XJIPC OpenIR

Browse/Search Results:  1-5 of 5 Help

Selected(0)Clear Items/Page:    Sort:
空间高能粒子对纳米器件栅介质可靠性影响的研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2018
Authors:  马腾
Adobe PDF(2664Kb)  |  Favorite  |  View/Download:37/0  |  Submit date:2018/07/06
金属氧化物半导体  辐射效应  可靠性  辐射诱导泄漏电流  介质经时击穿  
Total Ionizing Dose Response and Annealing Behavior of Bulk nFinFETs With ON-State Bias Irradiation 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018, 卷号: 65, 期号: 8, 页码: 1503-1510
Authors:  Yang, L (Yang, Ling)[ 1,2 ];  Zhang, QZ (Zhang, Qingzhu)[ 1,3 ];  Huang, YB (Huang, Yunbo)[ 1,2 ];  Zheng, ZS (Zheng, Zhongshan)[ 1,2 ];  Li, B (Li, Bo)[ 1,2 ];  Li, BH (Li, Binhong)[ 1,2 ];  Zhang, XY (Zhang, Xingyao)[ 4 ];  Zhu, HP (Zhu, Huiping)[ 1,2 ];  Yin, HX (Yin, Huaxiang)[ 1,3 ];  Guo, Q (Guo, Qi)[ 4 ];  Luo, JJ (Luo, Jiajun)[ 1,2 ];  Han, ZS (Han, Zhengsheng)[ 1,2 ]
Adobe PDF(3023Kb)  |  Favorite  |  View/Download:44/0  |  Submit date:2018/09/18
Anneal  Finfet  On-state Bias  Total Ionizing Dose (Tid)  
辐射环境下的微纳米器件可靠性变化机理与试验方法研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  周航
Adobe PDF(3489Kb)  |  Favorite  |  View/Download:60/0  |  Submit date:2017/09/26
Cmos  热载流子  辐射效应  重离子辐照  Tddb  
γ射线和电子束对SOI MOSFET栅介质可靠性影响研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  苏丹丹
Adobe PDF(6461Kb)  |  Favorite  |  View/Download:57/0  |  Submit date:2017/09/26
Mosfet  Tddb  辐射效应  可靠性  
SbTe基相变存储材料的辐射效应及损伤机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2013
Authors:  周东
Adobe PDF(6995Kb)  |  Favorite  |  View/Download:270/1  |  Submit date:2013/06/05
相变材料  总剂量辐射效应  位移效应  电子束诱导相变  激光诱导相变