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星用超深亚微米CMOS器件辐射效应及其可靠性研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2012
Authors:  崔江维
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超深亚微米器件  总剂量辐射  热载流子效应  负偏置温度不稳定性  相互作用  
SRAM型FPGA器件总剂量辐射效应及评估技术的研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2011
Authors:  高博
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Sram型fpga器件  总剂量效应  辐射损伤  评估技术  试验方法  
星载DC-DC电源转换器总剂量辐射损伤效应研究 期刊论文
原子能科学技术, 2011, 卷号: 45, 期号: 7, 页码: 888-892
Authors:  高博;  余学峰;  任迪远;  李豫东;  李茂顺;  崔江维;  王义元;  吾勤之;  刘伟鑫
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Dc-dc电源转换器  辐射损伤效应  退火效应  
星载DC/DC电源转换器总剂量效应研究 会议论文
, 贵阳, 2010-08-13
Authors:  高博;  余学峰;  任迪远;  吾勤之;  刘伟鑫;  李豫东;  李茂顺;  崔江维;  王义元
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Dc/dc电源转换器  60coγ  辐射损伤效应  退火效应