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CMOS有源像素图像传感器的电子辐照损伤效应研究 期刊论文
发光学报, 2017, 卷号: 38, 期号: 2, 页码: 182-187
Authors:  玛丽娅;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  文林;  汪波
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电子辐照  Cmos有源像素传感器  暗信号  
60Co-γ射线和电子束对CCD辐射效应的比较研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2016
Authors:  武大猷
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电荷耦合器件  60co-γ辐照  电子辐照  辐射损伤  低剂量率损伤增强效应  
CCD空间累积辐射效应及损伤机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2015
Authors:  文林
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电荷耦合器件  电离总剂量效应  位移效应  损伤机理  敏感参数  基本单元  
质子、中子、60Co-γ射线辐照对电荷耦合器件饱和输出电压的影响 期刊论文
红外与激光工程, 2015, 卷号: 44, 期号: S1, 页码: 35-40
Authors:  汪波;  文林;  李豫东;  郭旗;  汪朝敏;  王帆;  任迪远;  曾骏哲;  武大猷
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电荷耦合器件  高能粒子辐照  饱和输出电压  电离总剂量效应  
0.5μm工艺CMOS有源像素传感器的总剂量辐射效应 期刊论文
发光学报, 2015, 卷号: 36, 期号: 2, 页码: 242-248
Authors:  汪波;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  文林;  孙静;  玛丽娅
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电离总剂量辐射效应  Cmos有源像素传感器  饱和输出信号  像素单元结构  Locos隔离  
CCD器件辐射损伤参数测试方法 期刊论文
上海航天, 2015, 卷号: 32, 期号: 2, 页码: 64-68
Authors:  葛钊;  陈佳杰;  李豫东;  吾勤之
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辐射效应  参数测试方法  光谱响应  
γ射线辐照CMOS有源像素传感器的总剂量辐射效应研究 会议论文
, 中国甘肃兰州, 2014-08-13
Authors:  汪波;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  任迪远;  文林;  玛丽娅;  曾骏哲;  王海娇
Adobe PDF(927Kb)  |  Favorite  |  View/Download:33/0  |  Submit date:2018/06/04
Cmos Aps  暗信号  像素单元结构  电离总剂量  Locos隔离  
CMOS有源像素图像传感器的电子辐照损伤效应研究 会议论文
, 中国甘肃兰州, 2014-08-13
Authors:  玛丽娅;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  文林;  汪波
Adobe PDF(783Kb)  |  Favorite  |  View/Download:21/0  |  Submit date:2018/06/05
Cmos有源像素传感器  电子辐照  电离效应  暗电流  氧化物陷阱电荷  界面态缺陷  
TDI-CCD辐射效应测试技术及总剂量效应研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2012
Authors:  张乐情
Adobe PDF(1721Kb)  |  Favorite  |  View/Download:135/0  |  Submit date:2016/05/10
Tdi-ccd  60co-γ射线  电子辐照  辐射损伤  退火