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星用纳米MOS器件的总剂量辐射效应与NBTI效应研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2016
Authors:  余德昭
Adobe PDF(1666Kb)  |  Favorite  |  View/Download:142/0  |  Submit date:2016/09/27
Mosfet  辐射效应  Nbti  可靠性  
超深亚微米互补金属氧化物半导体器件的剂量率效应 期刊论文
物理学报, 2016, 卷号: 65, 期号: 7, 页码: 258-263
Authors:  郑齐文;  崔江维;  王汉宁;  周航;  余徳昭;  魏莹;  苏丹丹
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总剂量辐射效应  超深亚微米  金属氧化物半导体场效应晶体管  静态随机存储器  
Dose-rate sensitivity of deep sub-micro complementary metal oxide semiconductor process 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2016, 卷号: 65, 期号: 7
Authors:  Zheng, QW (Zheng Qi-Wen);  Cui, JW (Cui Jiang-Wei);  Wang, HN (Wang Han-Ning);  Zhou, H (Zhou Hang);  Yu, DZ (Yu De-Zhao);  Wei, Y (Wei Ying);  Su, DD (Su Dan-Dan)
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Total Ionizing Dose Effects  Deep Sub-micron  Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor  Static Random Access Memory  
静态随机存储器总剂量辐射损伤机制及试验方法研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2015
Authors:  郑齐文
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大规模集成电路  总剂量辐射  静态随机存储器  损伤机制  试验方法  
新型非易失存储器电离辐射效应及机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2014
Authors:  张兴尧
Adobe PDF(2943Kb)  |  Favorite  |  View/Download:325/2  |  Submit date:2014/08/05
新型非易失存储器  传统非易失存储器  总剂量效应  辐射敏感参数  
微纳大规模集成电路SRAM的总剂量辐射效应及评估方法研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2014
Authors:  丛忠超
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Sram  测试系统  辐照偏置  静态功耗电流  失效模式  
Online and offline test method of total dose radiation damage on static random access memory 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2014, 卷号: 63, 期号: 8, 页码: 329-335
Authors:  Cong, Zhong-Chao;  Yu, Xue-Feng;  Cui, Jiang-Wei;  Zheng, Qi-Wen;  Guo, Qi;  Sun, Jing;  Wang, Bo;  Ma, Wu-Ying;  Ma, Li-Ya;  Zhou, Hang
Adobe PDF(3161Kb)  |  Favorite  |  View/Download:158/0  |  Submit date:2014/11/11
Online-test  Offline-test  Static Random Access Memory  Functional Test  
SbTe基相变存储材料的辐射效应及损伤机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2013
Authors:  周东
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相变材料  总剂量辐射效应  位移效应  电子束诱导相变  激光诱导相变  
research on sram functional failure mode induced by total ionizing dose irradiation 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2013, 卷号: 62, 期号: 11
Authors:  Zheng Qi-Wen;  Yu Xue-Feng;  Cui Jiang-Wei;  Guo Qi;  Ren Di-Yuan;  Cong Zhong-Chao
Adobe PDF(9784Kb)  |  Favorite  |  View/Download:155/1  |  Submit date:2013/11/07
Sram  Function Failure  Test Pattern  Data Retention Fault  
总剂量辐射环境中的静态随机存储器功能失效模式研究 期刊论文
物理学报, 2013, 卷号: 62, 期号: 11, 页码: 378-384
Authors:  郑齐文;  余学峰;  崔江维;  郭旗;  任迪远;  丛忠超
Adobe PDF(496Kb)  |  Favorite  |  View/Download:169/0  |  Submit date:2013/11/06
静态随机存储器  功能失效  测试图形  数据保存错误