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空间高能粒子对纳米器件栅介质可靠性影响的研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2018
Authors:  马腾
Adobe PDF(2664Kb)  |  Favorite  |  View/Download:32/0  |  Submit date:2018/07/06
金属氧化物半导体  辐射效应  可靠性  辐射诱导泄漏电流  介质经时击穿  
γ射线辐照对130 nm部分耗尽SOI MOS器件栅氧经时击穿可靠性的影响 期刊论文
红外与激光工程, 2018, 卷号: 47, 期号: 9, 页码: 214-219
Authors:  马腾;  苏丹丹;  周航;  郑齐文;  崔江维;  魏莹;  余学峰;  郭旗
Favorite  |  View/Download:21/0  |  Submit date:2018/10/18
场效应晶体管  可靠性  栅氧经时击穿  Γ射线  
质子辐照对130nm部分耗尽SOI MOS器件栅氧经时击穿可靠性的影响 期刊论文
现代应用物理, 2018, 卷号: 8, 期号: 4
Authors:  马腾;  崔江维;  郑齐文;  魏莹;  赵京昊;  梁晓雯;  余学峰;  郭旗
Adobe PDF(793Kb)  |  Favorite  |  View/Download:28/0  |  Submit date:2018/07/20
辐射诱导泄漏电流  栅氧经时击穿  可靠性  质子辐照  部分耗尽soi  
电离辐射对部分耗尽绝缘体上硅器件低频噪声特性的影响 期刊论文
物理学报, 2015, 卷号: 64, 期号: 7, 页码: 393-398
Authors:  刘远;  陈海波;  何玉娟;  王信;  岳龙;  恩云飞;  刘默寒
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绝缘体上硅  部分耗尽  电离辐射  低频噪声  
Radiation effects on the low frequency noise in partially depleted silicon on insulator transistors 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2015, 卷号: 64, 期号: 7
Authors:  Liu, Y (Liu Yuan);  Chen, HB (Chen Hai-Bo);  He, YJ (He Yu-Juan);  Wang, X (Wang Xin);  Yue, L (Yue Long);  En, YF (En Yun-Fei);  Liu, MH (Liu Mo-Han)
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SilicOn On Insulator  Partially Depleted  Ionizing Radiation  Low Frequency Noise  
微纳大规模集成电路SRAM的总剂量辐射效应及评估方法研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2014
Authors:  丛忠超
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Sram  测试系统  辐照偏置  静态功耗电流  失效模式  
星用超深亚微米CMOS器件辐射效应及其可靠性研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2012
Authors:  崔江维
Adobe PDF(1798Kb)  |  Favorite  |  View/Download:112/0  |  Submit date:2016/05/10
超深亚微米器件  总剂量辐射  热载流子效应  负偏置温度不稳定性  相互作用  
SOI CMOS静态随机存储器总剂量辐射效应及评估技术的研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2011
Authors:  李明
Adobe PDF(1257Kb)  |  Favorite  |  View/Download:113/0  |  Submit date:2016/05/24
Soi  Sram  总剂量辐射效应  评估技术  实验方法  
静态随机存储器总剂量辐射效应及评估技术的研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2010
Authors:  李茂顺
Adobe PDF(1386Kb)  |  Favorite  |  View/Download:88/0  |  Submit date:2016/05/26
Sram  总剂量辐射效应  敏感参数  偏置条件  剂量率  
国产工艺的部分耗尽SOI MOSFET总剂量辐照效应及可靠性 期刊论文
原子能科学技术, 2010, 卷号: 44, 期号: 10, 页码: 1257-1261
Authors:  崔江维;  余学峰;  刘刚;  李茂顺;  兰博;  赵云;  费武雄;  陈睿
Adobe PDF(224Kb)  |  Favorite  |  View/Download:249/13  |  Submit date:2012/11/29
总剂量辐照效应  退火效应  可靠性