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科学级帧转移电荷耦合成像器件位移损伤效应与机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  曾骏哲
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电荷耦合器件  位移损伤  位移缺陷  低温测试  仿真模拟  
TDI-CCD辐射效应测试技术及总剂量效应研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2012
Authors:  张乐情
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Tdi-ccd  60co-γ射线  电子辐照  辐射损伤  退火  
应用于辐照实验的通用CCD测试电路设计 期刊论文
半导体技术, 2012, 卷号: 37, 期号: 7, 页码: 562-566
Authors:  张乐情;  郭旗;  李豫东;  卢健;  张兴尧;  胥佳灵;  于新
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电荷耦合器件  辐射效应  现场可编程门阵列  通用测试电路  电离总剂量