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JFET输入运算放大器的ELDRS效应及加速损伤方法初探 会议论文
, 重庆, 2007
Authors:  陆妩;  任迪远;  郭旗;  余学峰
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Jfet  运算放大器  伽马射线辐射  剂量率  加速评估  
双极线性集成电路的低剂量率辐射损伤增强效应及其加速评估方法研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2006
Authors:  高嵩
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双极线性集成电路  低剂量率  辐射损伤  加速评估方法  Eldrs  
JFET输入运算放大器的增强辐射损伤方法研究 期刊论文
核技术, 2006, 卷号: 29, 期号: 8, 页码: 627-630
Authors:  高嵩;  陆妩;  任迪远;  牛振红;  刘刚
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运算放大器  结型场效应管  辐射损伤  低剂量率  加速评估